光學(xué)目標(biāo)的信息采集通常是通過光學(xué)成像系統(tǒng)完成的，根據(jù)輻射物體大小、遠(yuǎn)近的不同， JRC4558D可利用望遠(yuǎn)、照相、投影、顯微等光路。這些光學(xué)系統(tǒng)的作用是將空間亮度分布轉(zhuǎn)換為像空間的照度分布，因此光學(xué)目標(biāo)形狀位置的檢測可歸結(jié)為檢測其像空間的照度分布隨時間的變化。在光學(xué)系統(tǒng)確定的情況下，對像面上像位置的分析代表了物空間坐標(biāo)的分析，它們之間用固定的光學(xué)變換常數(shù)聯(lián)系。這種通過分析被測物體在像面上的幾何中心相對于像面基準(zhǔn)的偏移情況，從而確定該物體在空間位置的方法稱為像分析，能夠?qū)崿F(xiàn)這種功能的裝置稱為像分析器。

   像分析器的基本工作原理是：將被測物體的光學(xué)像相對于假面基準(zhǔn)的幾何坐標(biāo)，變換為通過該基準(zhǔn)某一取樣窗口的光遁量，通過檢測該光通量的變化來解調(diào)出物體的坐標(biāo)位置。因此，像分析器是一種能將幾何形位信息調(diào)制到載波光通量上而形成光學(xué)調(diào)制的調(diào)制器，是幾何量轉(zhuǎn)換成光學(xué)量的G/O (Geometry/Optics)變換器。給出了像分析器的功能示意圖，它將物空間的亮度分布量B(x，y，力或像空間的照度分布量E(x，y，力變換為光通量的變化函(ai，a2，…，a。，f)，其中(ai，口：，…，%)是光通量的調(diào)制參量，與被測目標(biāo)的位置坐標(biāo)x，1，相對應(yīng)。像分析的過程常常與光通量的調(diào)制和像空間的掃描過程相聯(lián)系。在有些情況下，光學(xué)系統(tǒng)    調(diào)制器    這些功能可能是由同一環(huán)節(jié)實現(xiàn)的。