帶阻晶體管的檢測方法
發(fā)布時間:2017/2/10 20:54:47 訪問次數(shù):341
帶阻晶體管內(nèi)部接入了電阻R1和R2,測量時集電結(jié)和發(fā)射結(jié)的正向電阻應(yīng)比普通晶體管阻值大些,M65831AP具體的差值因電阻R1的不同而不同。
圖651中,將萬用表置于R×1k擋位,黑表筆接人集電極、紅表筆接人被測帶阻晶體管的發(fā)射極,此時電阻的測量值應(yīng)為∞,再以導(dǎo)線將被測帶阻晶體管的基極和集電極短路,若此時電阻的測量值減小,表明該管性能良好,若電阻值無變化,表明該管性能不良。
帶阻晶體管內(nèi)部接入了電阻R1和R2,測量時集電結(jié)和發(fā)射結(jié)的正向電阻應(yīng)比普通晶體管阻值大些,M65831AP具體的差值因電阻R1的不同而不同。
圖651中,將萬用表置于R×1k擋位,黑表筆接人集電極、紅表筆接人被測帶阻晶體管的發(fā)射極,此時電阻的測量值應(yīng)為∞,再以導(dǎo)線將被測帶阻晶體管的基極和集電極短路,若此時電阻的測量值減小,表明該管性能良好,若電阻值無變化,表明該管性能不良。
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