雙向晶閘管性能的檢測(cè)
發(fā)布時(shí)間:2017/2/11 19:50:56 訪問(wèn)次數(shù):306
雙向晶閘管性能的檢測(cè) 將萬(wàn)用表置于R×1擋位或R×10擋位,測(cè)量雙向晶閘管的主電極T1與主電極T2之間、主電極T2與門(mén)極G之間的正、反向電阻值;HA16116FP-EL-E正常情況下,兩次的電阻測(cè)量值均應(yīng)接近∞;若測(cè)得電阻值均很小,則表明該晶閘管已擊穿或存在漏電短路估測(cè)。接著,測(cè)量主電極T1與門(mén)極G之間的正、反向電阻值,正常情況下,兩次的電阻測(cè)量值均應(yīng)在幾至一百歐姆(黑表筆接Tl、紅表筆接G時(shí),正向電阻測(cè)量值略小于反向電阻值);若測(cè)得T1與G之間的正、反向電阻值均為∞,則表明被測(cè)晶閘管已損壞。
雙向晶間管觸發(fā)能力的檢測(cè) 對(duì)于工作電流為8A以下的小功率雙向晶閘管,可以用萬(wàn)用表R×1擋位直接進(jìn)行測(cè)量;測(cè)量時(shí)黑表筆接主電極T2、紅表筆接主電極T1,再用鑷子將T2與G短路,向G施加正極性觸發(fā)信號(hào);若此時(shí)的電阻測(cè)量值由∞變?yōu)槭畮讱W姆,則表明被測(cè)晶間管已經(jīng)被觸發(fā)導(dǎo)通、且導(dǎo)通方向?yàn)門(mén)2→T1;再將黑表筆接主電極T1、紅表筆接主電極T2,用鑷子將T2與G短路,向G施加負(fù)極性觸發(fā)信號(hào);若此時(shí)的電阻測(cè)量值由∞變?yōu)槭畮讱W姆,則表明被測(cè)晶間管已被觸發(fā)導(dǎo)通、且導(dǎo)通方向?yàn)門(mén)1→T2。
若在晶閘管被觸發(fā)導(dǎo)通后斷開(kāi)G,則T2、Tl極間不能維持低阻導(dǎo)通狀態(tài),而阻位變?yōu)?/span>∞,表明被測(cè)晶閘管的性能不良或已經(jīng)損壞;若向G施加正(或負(fù))極性觸發(fā)信號(hào)而晶間管仍不導(dǎo)通(T1與T2間的正、反向電阻值仍為∞),表明該晶間管已損壞、無(wú)觸發(fā)導(dǎo)通能力。
雙向晶閘管性能的檢測(cè) 將萬(wàn)用表置于R×1擋位或R×10擋位,測(cè)量雙向晶閘管的主電極T1與主電極T2之間、主電極T2與門(mén)極G之間的正、反向電阻值;HA16116FP-EL-E正常情況下,兩次的電阻測(cè)量值均應(yīng)接近∞;若測(cè)得電阻值均很小,則表明該晶閘管已擊穿或存在漏電短路估測(cè)。接著,測(cè)量主電極T1與門(mén)極G之間的正、反向電阻值,正常情況下,兩次的電阻測(cè)量值均應(yīng)在幾至一百歐姆(黑表筆接Tl、紅表筆接G時(shí),正向電阻測(cè)量值略小于反向電阻值);若測(cè)得T1與G之間的正、反向電阻值均為∞,則表明被測(cè)晶閘管已損壞。
雙向晶間管觸發(fā)能力的檢測(cè) 對(duì)于工作電流為8A以下的小功率雙向晶閘管,可以用萬(wàn)用表R×1擋位直接進(jìn)行測(cè)量;測(cè)量時(shí)黑表筆接主電極T2、紅表筆接主電極T1,再用鑷子將T2與G短路,向G施加正極性觸發(fā)信號(hào);若此時(shí)的電阻測(cè)量值由∞變?yōu)槭畮讱W姆,則表明被測(cè)晶間管已經(jīng)被觸發(fā)導(dǎo)通、且導(dǎo)通方向?yàn)門(mén)2→T1;再將黑表筆接主電極T1、紅表筆接主電極T2,用鑷子將T2與G短路,向G施加負(fù)極性觸發(fā)信號(hào);若此時(shí)的電阻測(cè)量值由∞變?yōu)槭畮讱W姆,則表明被測(cè)晶間管已被觸發(fā)導(dǎo)通、且導(dǎo)通方向?yàn)門(mén)1→T2。
若在晶閘管被觸發(fā)導(dǎo)通后斷開(kāi)G,則T2、Tl極間不能維持低阻導(dǎo)通狀態(tài),而阻位變?yōu)?/span>∞,表明被測(cè)晶閘管的性能不良或已經(jīng)損壞;若向G施加正(或負(fù))極性觸發(fā)信號(hào)而晶間管仍不導(dǎo)通(T1與T2間的正、反向電阻值仍為∞),表明該晶間管已損壞、無(wú)觸發(fā)導(dǎo)通能力。
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