RS測試時干擾通過空間輻射來施加到EUT上,施加的干擾是80MHz~2GHz的射頻連續(xù)波信號,干擾場強(qiáng)為1~30Ⅴ/m,調(diào)制方式為1kHz正弦波sO%的幅度調(diào)制。PESD12VL1BA這些干擾進(jìn)人EUT內(nèi)部電路,會導(dǎo)致模擬信號的輸人、輸出與預(yù)期效果偏離,造成數(shù)字電路的控制失效或誤動作,甚至造成微處理電路的程序運(yùn)行出錯、存儲和讀取數(shù)據(jù)錯誤。

   射頻干擾(R冂)傳輸途徑

   如圖17-3所示,RΠ可經(jīng)過許多途徑進(jìn)人EUT。

   圖17-3 Rs測試失敗原因分析示意圖

   首先,RFI會通過EUT外殼直接進(jìn)人EUT內(nèi)部,被EUT內(nèi)部電路元器件、PCB布線和內(nèi)部傳輸電纜所接收,從而對電路形成干擾。若EUT為非金屬外殼,空間輻射干擾可以毫無阻攔地進(jìn)人EUT內(nèi)部,此時若出現(xiàn)RS測試失敗,應(yīng)首先考慮外殼原因。