由于EMC設(shè)計(jì)及EMC問(wèn)題的分析是建立在EMC測(cè)試的基礎(chǔ)上的,所以有必要對(duì)EMC測(cè)試做簡(jiǎn)單的闡述。INA169NA/250測(cè)試電子、電氣和機(jī)電設(shè)備及其部件所輻射發(fā)射,包括來(lái)自所有組件、電纜及連接線上之輻射發(fā)射。

   用來(lái)鑒定其輻射是否符合標(biāo)準(zhǔn)的要求,以致在正常使用過(guò)程中部影響同一環(huán)境中的其他設(shè)各。

    輻射發(fā)射測(cè)試設(shè)備

   根據(jù)常用傳導(dǎo)騷擾測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)CISPR16及EN55∞2的要求,輻射發(fā)射測(cè)試主要需要如下設(shè)備:

   (1)EMI自動(dòng)測(cè)試控制系統(tǒng)(計(jì)算機(jī)及其界面單元);

   (2)EMI測(cè)試接收機(jī);

   (3)各式天線(主動(dòng)、被動(dòng)棒狀天線、大小形狀環(huán)路天線、功率雙錐天線、對(duì)數(shù)螺旋天線、喇叭天線)及天線控制單元等;

   (4)半電波暗室或開(kāi)闊場(chǎng)。

   EMI測(cè)試接收機(jī)是EMC測(cè)試中最常用的基本測(cè)試儀器,基于測(cè)試接收機(jī)之頻率響應(yīng)特性要求,按CIS-PR16規(guī)定,測(cè)試接收機(jī)應(yīng)有四種基本檢波方式即,準(zhǔn)峰值檢波、均方根值檢波、峰值檢波及平均值檢波。然而,大多數(shù)電磁干擾都是脈沖干擾,它們對(duì)音頻影響的客觀效果是隨著重復(fù)頻率的增高而增大,具有特定時(shí)間常數(shù)的準(zhǔn)峰值檢波器的輸出特性,可以近似反映這種影響。因此在無(wú)線廣播頻率領(lǐng)域,αsPR所推薦的EMC性規(guī)范采用準(zhǔn)峰值檢波。由于準(zhǔn)峰值檢波既要利用干擾信號(hào)的幅度,又要反映它的時(shí)間分布,因此其充電時(shí)間常數(shù)比峰值檢波器大,而放電時(shí)間常數(shù)比峰值檢波器小,對(duì)不同頻譜段應(yīng)有不同的充、放電時(shí)間常數(shù),這兩種檢波方式主要用于脈沖干擾測(cè)試。