國(guó)際電工委員會(huì)(Intcmational Electroteclmical Commission,IEC)、美國(guó)固態(tài)技術(shù)協(xié)會(huì)(JEDEC solⅡ statc Tcclmol吧y As∞ciation,汜DEC)、N76E885AT28靜電放電協(xié)會(huì)(Elcctrostatic Ⅱschargc

Associ缸o(hù)n,EsDA)、汽車電子工業(yè)協(xié)會(huì)(At1tomoti妮Elcctronics CouncⅡ,AEC)等均研制或應(yīng)用了人體模型(HBM)、機(jī)器模型(MM)、帶電設(shè)備模型(CDM)等測(cè)試模型標(biāo)準(zhǔn),ESDA更進(jìn)一步研制了套接設(shè)備模型(sDM)、瞬時(shí)閉鎖設(shè)備模型(TLU)、傳輸線脈沖設(shè)

備模型(TLP)、人體金屬設(shè)各模型(HMM)等測(cè)試模型標(biāo)準(zhǔn)。但我國(guó)尚未在測(cè)試模型方面開展標(biāo)準(zhǔn)化研究。

   靜電放電敏感度測(cè)試就是利用規(guī)范的測(cè)試模型對(duì)靜電敏感器件做靜電測(cè)試,以了解其抗靜電放電的能力。通過(guò)將一個(gè)器件置于模擬的靜電放電過(guò)程中,可確定一個(gè)器件和物體的敏感度。由模擬的靜電放電過(guò)程所測(cè)試的敏感度等級(jí),并不一定與實(shí)際情況下的敏感度等級(jí)相同。但是,它們還是被用來(lái)建立一個(gè)敏感度數(shù)據(jù)的底線,以比較不同制造商提供的同類產(chǎn)品。用于描述電子元器件特性的三個(gè)不同的模型是:人體放電模型,機(jī)器模型,和帶電器件模型。