開環(huán)測試法:對于一些有反饋的環(huán)形電路,如振蕩器、穩(wěn)壓器等電路,它們各 KIA7033AF-RTF級的工作情況相互牽連,這時可采用開環(huán)測試法,將反饋環(huán)斷開,然后逐級進(jìn)行檢查,可更快地查出故障點(diǎn)。

   對不需要的自激振蕩現(xiàn)象,也可以采用這種方法。

   對比法:將有問題的電路狀態(tài)、參數(shù)與相同的正常電路進(jìn)行逐項對比。這種方法可以較快地從異常參數(shù)中分析出故障。

   替代法:把已調(diào)試好的單元電路代替有故障或有疑問的相同單元電路,這樣可以很快地判斷出故障部位。再用相同規(guī)格的優(yōu)質(zhì)元件逐一替代故障部位的元件,就可很快地判斷出故障點(diǎn)。這種方法可以加快故障的查找速度,提高調(diào)試效率。

   靜態(tài)、動態(tài)測試法:要查找故障點(diǎn),最常用的方法就是用靜態(tài)、動態(tài)測試法。靜態(tài)測試法是在電路不加信號的情況下,用萬用表測試電阻值、電容是否漏電、電路是否有斷路或短路現(xiàn)象、晶體管或集成電路各引腳電壓是否正常等,通常通過靜態(tài)測試,可發(fā)現(xiàn)元器件的故障。當(dāng)靜態(tài)測試不能奏效時,可采用動態(tài)測試法。動態(tài)測試是在電路輸入端加上適當(dāng)信號再測試元器件的情況,通過觀察電路的工作狀態(tài),分析、判斷故障原因。