在幾何光學(xué)的成像過(guò)程中, K4S561632J-UI75假設(shè)從物點(diǎn)發(fā)出多條光線,由于光學(xué)系統(tǒng)像差存在,這些光線在像面上將不會(huì)集中于一點(diǎn),而是形成一個(gè)分布在一定范圍內(nèi)的彌散圖形,這一彌散圖形就稱為該光學(xué)系統(tǒng)在該視場(chǎng)方向上的點(diǎn)列圖。

   利用光學(xué)系統(tǒng)在給定方向上的點(diǎn)列圖中點(diǎn)集的密集程度來(lái)衡量光學(xué)系統(tǒng)的成像質(zhì)量的方法就被稱為點(diǎn)列圖法[1:]。

   點(diǎn)列圖法實(shí)際上是采用大量光線追跡的方法獲取從物點(diǎn)發(fā)出的不同指向(對(duì)應(yīng)人瞳平面上的不同位置)不同波長(zhǎng)的光線在像面上的分布況,如圖3-犭所示。在大量光線追跡的前提下,像面上光線點(diǎn)跡分布密度就代表了像點(diǎn)的光強(qiáng)分布情況。

   使用點(diǎn)列圖時(shí),通常用一定能量集中度的彌散斑直徑來(lái)評(píng)價(jià)像質(zhì)[3]。例如:能量集中度為gO%的彌散斑直徑為30um,是指所有的追跡光線中有⒇%的點(diǎn)落在以彌散斑質(zhì)心為中心的直徑為30um的圓內(nèi)。而彌散斑直徑的倒數(shù)即為光學(xué)系統(tǒng)的分辨率。

   實(shí)驗(yàn)表明:在大像差光學(xué)系統(tǒng)中,用幾何光線追跡所確定的光能分布與實(shí)際成像情況的光強(qiáng)度分布是相當(dāng)符合的[3]。

  利用點(diǎn)列圖來(lái)評(píng)價(jià)光學(xué)系統(tǒng)的成像質(zhì)量時(shí),要進(jìn)行大量光線的光路追跡運(yùn)算,通常要計(jì)算數(shù)百條甚至數(shù)萬(wàn)條光線,計(jì)算量非常大,只有在利計(jì)算機(jī)進(jìn)行輔助計(jì)算的情況下才能實(shí)現(xiàn)。然而這種方法又是一種簡(jiǎn)便易行而且直觀的光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量評(píng)價(jià)方法,常在像差較大的照相物鏡等光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)中得到應(yīng)用[1:]。