應(yīng)力強(qiáng)度模型主要用來模擬機(jī)械設(shè)備的損壞，而反應(yīng)論模型則用來模擬化學(xué)反應(yīng)等導(dǎo)致的失效。 K4D553238F-JC33它是指電子元器件的劣化和損壞等失效，是在原子、分子這樣的級別上隨時(shí)間發(fā)生的變化引起的。例如，由于電氣、機(jī)械、熱和化學(xué)等多方面的應(yīng)力所引起物質(zhì)內(nèi)部各種變化，如平衡狀態(tài)的變化、材料組分的變化、晶體結(jié)構(gòu)的變化、結(jié)合力的變化、裂紋的發(fā)展等，都是造成元器件失效的原因。而支配這些失效進(jìn)程的，乃是氧化、析出、電解、擴(kuò)散、蒸發(fā)、磨損和疲勞等失效機(jī)理。這些變化或反應(yīng)的速度決定于應(yīng)力的種類和大小。

   元器件或材料的壽命決定于這樣的反應(yīng)結(jié)果，即反應(yīng)產(chǎn)生的有害物質(zhì)（如氧化物、腐蝕析出物等）的積累或裂紋的擴(kuò)展達(dá)到或超過界限值，失效即隨之發(fā)生，也就是說，失效壽命隨反應(yīng)速度的加快而縮短，它與反應(yīng)速度成正比。把這樣的失效物理模型稱為反應(yīng)論模型，它也屬于耐久模型范疇的理化模型。這里所指的

反應(yīng)不僅指狹義的化學(xué)反應(yīng)，而且包括蒸發(fā)、凝聚、劈形變、裂紋等類具有一定變化速度的物理變化，均屬  蔡于反應(yīng)論模型。

   在從正常狀態(tài)進(jìn)入退化狀態(tài)的過程中，存在著能量勢壘，而跨越這種勢壘所需的能量是由環(huán)境應(yīng)力提供的。并且，趲過此能量勢壘（稱為激活能E）進(jìn)行反應(yīng)的頻數(shù)是按一定概率發(fā)生的，即 服從玻爾茲曼分布，此反應(yīng)速度與溫度的關(guān)系，就是前面的加速壽命試驗(yàn)所介紹的阿倫尼斯反應(yīng)速率模型和艾林模型。