測量場地:屏蔽室(當環(huán)境噪聲影響測量結果時使用)、普通的測量間(當環(huán)境噪聲不影響測量結果時使用)等。

   其他:接地平板、濾波器K9F2G08UOB-PIB0 (當供電質(zhì)量影響測量結果時使用)、人工模擬手、調(diào)頻調(diào)壓源(當供電參數(shù)無法滿足測量需求時使用)等。以上所列舉的產(chǎn)品類別及其不同的端口,有些可以直接測量,有些需要通過專用的耦合網(wǎng)絡進行取樣測量,有些可以通過電壓探頭或電流探頭進行取樣測量。GB4824、 GB 13837、 GB 4343.1、 GB 17743、 GB 9254、 GB 17799.3、 GB17799.4等電磁兼容標準都對相應產(chǎn)品的輻射騷擾場強進行限制。不同標準針對的具體產(chǎn)品各不相同,測量的頻率范圍、參數(shù)也不相同(電場或磁場),測量方法、限值要求也有差別,但都是對產(chǎn)品向空間輻射電磁騷擾場強大小進行限制,防止對周圍一定范圍內(nèi)的其他電子電器產(chǎn)晶形成干擾,以保證產(chǎn)品的電磁兼容性胄旨。

   用場強測量的方法來測量產(chǎn)品的輻射發(fā)射是一種基本的測量方法。大多數(shù)的電子電器產(chǎn)品的輻射發(fā)射都用這種方法進行輻射發(fā)射測量。部分標準也采用通過測量產(chǎn)品接口線纜對外發(fā)射的騷擾功率的方式來間接評估產(chǎn)品對外發(fā)射的電磁騷擾。

   電子電器產(chǎn)品輻射騷擾場強一般測量頻率范圍為30~1000MHz(對燈具類產(chǎn)品需進行9kHz~⒛MHz頻率范圍的磁場輻射騷擾測試;對信息技術設備需進行1GHz以上的輻射騷擾測試),測量一般在開闊場、半電波暗室或全電波暗室中,通過天線接收被測樣品的空間電磁騷擾發(fā)射的方式來進行。

   輻射騷擾場強測試超標肘問題部位的確定

  設備內(nèi)的元器件、集成片、印制電路板的走線、有信號電流經(jīng)過的地方都可能向周圍空間輻射電磁能量,頻率越高就越容易產(chǎn)生電磁輻射3對電子產(chǎn)品來說,其輻射騷擾的主要騷擾來源包括開關電源的開關頻率及諧波騷擾;交流電機的運行噪聲、直流電機的電刷噪聲;電磁感應設備的電磁騷擾;智能控制設備的晶振及數(shù)字電路電磁騷擾等。

   數(shù)字電路和控制電路的信號工作在方波狀態(tài),其對外發(fā)射的騷擾除工作的基頻以外,還存在大量的諧波分量,因此,不能僅考慮其工作基頻的泄漏,還得充分考慮其諧波泄漏:若信號為對稱方波,其諧波能量主要集中在奇次諧波上;若信號為非對稱方波,則其奇次和偶次諧波分量均較大。通常情況下,數(shù)字電路的方波上升/下降沿越陡峭,則其諧波分量越大。鑒于現(xiàn)有的數(shù)字電路的集成及生產(chǎn)工藝狀況:數(shù)字電路工作頻率越低,其波形上升/下降沿越陡峭,其諧波分量也越豐富,且高次諧波分量也較大;數(shù)字電路工作頻率越高,其波形上升/下降沿則越平緩,其諧波能量比較集中在低次諧波分量上。通常情況下,數(shù)字電路工作在1MHz頻率以下,應考慮的諧波頻率范圍為50次以內(nèi)的諧波分量;工作在1~3OMHz頻率范圍,應考慮15~30次以內(nèi)的諧波分量;工作在⒛~300MHz頻率范圍,應考慮7~15次以內(nèi)的諧波分量;工作在300MHz~1GHz頻率范圍,考慮5~7次以內(nèi)的諧波分量即可;工作在1GHz以上頻率范圍,考慮3次及3次以內(nèi)的諧波分量即可。設備內(nèi)部存在的最高輻射頻率可通過這種方式來確定。