采用開路測(cè)電阻法判別集成電路好壞比較準(zhǔn),并且對(duì)大多數(shù)集成電路都適用,其缺點(diǎn)是檢測(cè)時(shí)需要找一個(gè)同型號(hào)的正常集成電路作為對(duì)照,解決這個(gè)問題的方法是平時(shí)多測(cè)量一些常用集成電路的開路電阻數(shù)據(jù),PACSZ1284-04QR以便以后檢測(cè)同型號(hào)集成電路時(shí)作為參考,另外也可查閱一些資料來獲得這方面的數(shù)據(jù)。圖14-19是一種常用的內(nèi)部有四個(gè)運(yùn)算放大器的集成電路LM324,表14~o^中列出其開路電阻數(shù)據(jù),測(cè)量使用數(shù)字萬用表⒛flm擋,表中有兩組數(shù)據(jù),一組為紅表筆接11腳(接地腳)、黑表筆接其他各腳測(cè)得的數(shù)據(jù),另一組為黑表筆接11腳、紅表筆接其他各腳測(cè)得的數(shù)據(jù),在檢測(cè)LM324好壞時(shí),也應(yīng)使用數(shù)字萬用表的⒛Clm擋,再將實(shí)測(cè)的各腳數(shù)據(jù)與表中數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)照來判別所測(cè)集成電路的好壞.