K9GBG08U0A-SCB0

   可以在較短時間內(nèi)用較少的元器件估計高度可靠元器件的高可靠性水平，運用外推的方法能快速預(yù)測元器件在額定或?qū)嶋H使用條件下的可靠度或失效率；

   可以在較短時間內(nèi)提供試驗結(jié)果，檢驗工藝改進效果，或比較不同工藝的好壞，對元器件可靠性設(shè)計和可靠性增長的效果進行評價；

    產(chǎn)品壽命分布的類型與施加應(yīng)力的類型有密切關(guān)系，同樣的產(chǎn)品由于承受不同類型的應(yīng) 力，效應(yīng)的壽命分布類型也將會不同。同類型的產(chǎn)品，在同樣類型的應(yīng)力條件下，雖然應(yīng)力 水平不同，但在一定的范圍內(nèi)，它不會改變產(chǎn)品壽命的分有類型，而只影響壽命的分布參數(shù)。 例如，某種型號的電子管，施加電應(yīng)力時的壽命分布可能符合威布爾分布；如果對電子管施加某種頻率的振動試驗，其疲勞壽命分布有可能是對數(shù)正態(tài)分布。對于電子元器件，多數(shù)都 工作在一定溫度和電應(yīng)力條件下，從失效機理分析也可知，多數(shù)元器件的失效是由溫度和電 應(yīng)力造成的。因此，著重介紹以溫度和電應(yīng)力為加速應(yīng)力的壽命試驗，并以失效規(guī)律符合威布爾的恒定應(yīng)力加速壽命試驗為基礎(chǔ)，分析加速壽命試驗的論和方法。

    在較短時間內(nèi)暴露元器件的失效類型及形式，以使對失效機理進行研究，找出失效原因，從而可正確地確立失效判據(jù)和失效條件，為提高產(chǎn)品可靠性提供依據(jù)；但是，由于加速試驗在理論上有一定的根據(jù)，而且能在較短的時間內(nèi)對產(chǎn)品的可靠性做出估計，因此該方法仍被廣泛地采用。

   要使加速壽命試驗方法得到實際應(yīng)用，必須解決下面兩個問題。

   比較可靠性篩選效果，確定最好的篩選方法，以便選擇恰當(dāng)?shù)暮Y選方法，淘汰早期 失效的產(chǎn)品；

   測定元器件某些極限的使用條件。

  但是，加速壽命試驗不能完全代替正常使用條件下的壽命試驗，它只是對壽命試驗的一 種近似估計。這是因為加速壽命試驗?zāi)壳斑�存在不少困難；其一是對試驗方法及測試條件的保證有嚴(yán)格的要求；其二是為了對試驗結(jié)果做出正確的解釋，必須對產(chǎn)品的失效機理有較好 的了解；其三是有多次的試驗結(jié)果需要進行比較和分析。

   必須找到加速前后壽命之間的關(guān)系，否則加速試驗無意義；

   加速必須是真正的加速，也就是只加快失效進程，而不改變失效機理。