K9GAG08U0E-SCB0

   實際安排測試時間時，由于對盧。和分布函數(shù)并不確知，這時可將P。估計得略小一些，這樣可將測試點向前移動，然后根據(jù)實際試驗情況再做適當調(diào)整。這樣考慮是允許的，因為對于壽命符合指數(shù)分布的產(chǎn)品，每次試驗統(tǒng)計出的分布與理論上的分布總會有些差異，測試時間稍有不同也是可以的，但總的測試時間的選擇原則如前所述，希望在各測試周期內(nèi)能比較均衡地測到失效產(chǎn)品數(shù)，防止某個測試周期內(nèi)失效過于集中或不必要地增加測試次數(shù)。

    所選擇的測量參數(shù)要能夠顯示失效機理的發(fā)展進程，也就是說，選擇那些對失效機理 的發(fā)展能起到指示作用的靈敏參數(shù)。測量的參數(shù)可能不止一個，而是多個，因此在測量時 必須避免各參數(shù)的測量方法相互影響，認真確定其先后順序。選擇參數(shù)的測方法時，還 必須盡量避免在測量中出現(xiàn)對其樣品失效機理的發(fā)展起促進、減緩或破壞作用，更不能引 入新的失效機理。

   試驗截止時間是壽命試驗中的主要難點，它與樣品數(shù)量及所達到的失效數(shù)有關(guān)。由于一般電子元器件壽命都非常長，加之試驗數(shù)據(jù)采用統(tǒng)計分析法，故采用截尾試驗。對于低應力下的壽命試驗，常采用定時截尾試驗，即試驗達到規(guī)定時間停止試驗，一般要求截止時間￡為平均壽命的1.6倍以上，如采用1000小時、5000小時或10000小時等；對于高應力下的壽命試驗，常采用定數(shù)截尾試驗，即當累計失效數(shù)或累積失效概率達到規(guī)定值，一般應在30%、40%或50%以上時停止試驗。試驗停止時間一經(jīng)確定，在試驗過程中不得變動，以保證統(tǒng)計處理的正確性。

     如前所述，失效標準的制定就是明確判斷產(chǎn)品失效的技術(shù)指標，其可以是產(chǎn)品完全失效，如擊穿、開路、短路、燒毀等，也可以是部分失效，即產(chǎn)品的性能超過某種確定的界限，但沒有完全喪失規(guī)定功能的失效。一個產(chǎn)品往往有好幾項技術(shù)指標或性能參數(shù)，在壽命試驗中規(guī)定：只要產(chǎn)品有一項指標或參數(shù)超出了標準就判為失效。例如，陶瓷電容器的主要技術(shù)指標有電容量的相對變化率等、絕緣電阻R、損耗角正切tan8、耐壓等，只要這些指標中有一項超出了規(guī)定，就應判為失效。如沒有特殊規(guī)定，通常都是以產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范中所規(guī)定的技術(shù)標準作為失效標準的判據(jù)。

對于指數(shù)分布，肖采用定數(shù)截尾試驗時，試驗時間f與試驗樣品數(shù)卵和所要求達到的 失效概率F(t)一寺，可由下式確定 只要估計出產(chǎn)品在該試驗條件下的平均壽命m，即可估計出試驗所需時間。