在規(guī)定的環(huán)境條件下進(jìn)行非工作狀態(tài)的存放試驗(yàn),稱為存儲(chǔ)壽命試驗(yàn)。存儲(chǔ)壽命試驗(yàn)條件通常為室內(nèi)、棚下、露天等,因此存儲(chǔ)的環(huán)境試驗(yàn)方法又稱天然暴露試驗(yàn)。對(duì)于不可修產(chǎn)品,存儲(chǔ)壽命是指在規(guī)定的條件下存儲(chǔ)時(shí),從開始存儲(chǔ)到失效的存儲(chǔ)時(shí)間;對(duì)于可修產(chǎn)品,存儲(chǔ)壽命是指從開始存儲(chǔ)到不可修復(fù)為止的存儲(chǔ)時(shí)間。存儲(chǔ)壽命試驗(yàn)一般需要較多的試驗(yàn)樣品和長期的觀察測量,才能對(duì)產(chǎn)品做出較好的預(yù)計(jì)和評(píng)價(jià)。

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    任何產(chǎn)品都有其一定的壽命,無論是處于存儲(chǔ)狀態(tài)還是工作狀態(tài)。在整個(gè)壽命周期內(nèi),都要經(jīng)歷從誕生到存儲(chǔ)、運(yùn)輸、待命、工作到失效的過程。在存儲(chǔ)過程中,影響產(chǎn)品可靠性的因素有很多,除有環(huán)境因素的影響外,存儲(chǔ)時(shí)間、存儲(chǔ)方式等也都會(huì)對(duì)其造成影響。在每個(gè)過程當(dāng)中,產(chǎn)品所處的環(huán)境不同,存儲(chǔ)的時(shí)間也不同。 為保證產(chǎn)品的可靠性,就必須保證產(chǎn)品在任何過程中都能完成規(guī)定的動(dòng)作而不失效。絕大部分的產(chǎn)品都是處于工作階段的,其可靠性與工作環(huán)境、工作時(shí)間有密切的聯(lián)系。但對(duì)于一些特殊的產(chǎn)品,例如電子系統(tǒng)電子器件、航天用電子器件,其使用時(shí)間是遠(yuǎn)遠(yuǎn)短于存儲(chǔ)時(shí)間的,所以工作可靠性與存儲(chǔ)時(shí)間和環(huán)境有很大關(guān)系。對(duì)這一類的特殊產(chǎn)品而言,存儲(chǔ)時(shí)間和環(huán)境就成為研究其可靠性的一項(xiàng)重要指標(biāo)。隨著科學(xué)技術(shù)的高速發(fā)展,產(chǎn)品更新?lián)Q代的周期越來越短,因而需要在較短時(shí)期內(nèi)獲得產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)和壽命等信息。但通常的存儲(chǔ)壽命試驗(yàn)方法要耗費(fèi)大量的試驗(yàn)時(shí)間、人力和物力,并且由于產(chǎn)品更新?lián)Q代等問題,長時(shí)間存儲(chǔ)壽命試驗(yàn)后得出的結(jié)果可能已經(jīng)失去了實(shí)際意義。因此,為了縮短試驗(yàn)時(shí)間,需要進(jìn)行加速存儲(chǔ)壽命試驗(yàn)。

   加速存儲(chǔ)壽命試驗(yàn)是一種在不改變產(chǎn)品在實(shí)際存儲(chǔ)條件下的失效機(jī)理,在不增加新的失效機(jī)理的前提下,用加大存儲(chǔ)環(huán)境試驗(yàn)應(yīng)力的方法加速產(chǎn)品失效,根據(jù)其試驗(yàn)結(jié)果預(yù)計(jì)正常存儲(chǔ)環(huán)境應(yīng)力下產(chǎn)品的存儲(chǔ)壽命,或在一個(gè)相對(duì)短的時(shí)間內(nèi)獲得失效率數(shù)據(jù)的技術(shù)。存儲(chǔ)環(huán)境是指產(chǎn)品在存儲(chǔ)過程中所能遇到的環(huán)境,是存儲(chǔ)過程中影響產(chǎn)品的諸多因素的總和,按性質(zhì)可分為自然存儲(chǔ)環(huán)境與人工存儲(chǔ)環(huán)境;按場所可分為庫房環(huán)境、棚庫環(huán)境、露天環(huán)境等。存儲(chǔ)中對(duì)產(chǎn)品產(chǎn)生影響的因素主要有溫度、濕度、霉菌、氣壓、腐蝕介質(zhì)等,其中以溫度和濕度的影響最大。