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恒定加速度試驗(yàn)應(yīng)注意的問(wèn)題

發(fā)布時(shí)間:2019/5/10 20:51:31 訪問(wèn)次數(shù):2367

   恒定加速度試驗(yàn)應(yīng)注意的問(wèn)題

   恒定加速度試驗(yàn)Y1方向?qū)ζ骷䞍?nèi)部鍵合點(diǎn)、芯片等表現(xiàn)為拉力。有人用材料力學(xué)觀點(diǎn)解釋恒定加速度試驗(yàn)。根據(jù)材料力學(xué)概念,一根金屬棒受拉,只要拉力不超過(guò)材料的彈性限度,無(wú)論作用時(shí)問(wèn)長(zhǎng)短,都不能拉斷金屬棒,對(duì)材料本身的性能也不發(fā)生任何影響。但當(dāng)拉力大到足以破壞材料結(jié)構(gòu)時(shí),瞬間可將金屬棒拉斷。也就得出這樣一個(gè)結(jié)論:金屬棒是否被拉斷,僅與外加拉力大小有關(guān),而與拉力施加的時(shí)間、次數(shù)無(wú)關(guān)。按上述觀點(diǎn)安排了這方EEl的試驗(yàn)――持久試驗(yàn)與疲勞試驗(yàn),同時(shí)試驗(yàn)后檢測(cè)器件電學(xué)參數(shù)。試驗(yàn)結(jié)果大部分支持了以上觀點(diǎn)。


LE8575BFJC

   (1)在相同恒定加速應(yīng)力下,失效率與試驗(yàn)次數(shù)無(wú)關(guān)(疲勞試驗(yàn))。

   (2)在相同恒定加速應(yīng)力下,失效率與試驗(yàn)應(yīng)力保持時(shí)問(wèn)無(wú)關(guān)(持久試驗(yàn))。

   (3)恒定加速度試驗(yàn),對(duì)管子的電參數(shù)無(wú)影響。試驗(yàn)結(jié)果要么內(nèi)部某結(jié)構(gòu)被拉斷,產(chǎn)生開(kāi)路失效,要么器件內(nèi)部結(jié)構(gòu)無(wú)破壞性損傷,電參數(shù)不變。從而得出銣l下結(jié)論:

   ①恒定加速度試驗(yàn)是一種“無(wú)損”試驗(yàn),不是破壞性試驗(yàn)?梢哉J(rèn)為恒定加速度應(yīng)力對(duì)產(chǎn)品無(wú)應(yīng)力積累,產(chǎn)品不會(huì)隨測(cè)試時(shí)間與數(shù)產(chǎn)生疲勞失效。

   ②器件的失效是瞬間發(fā)生的,器件內(nèi)部結(jié)構(gòu)的破壞不經(jīng)過(guò)中間過(guò)渡狀態(tài)。即從完整牢固的結(jié)構(gòu)不經(jīng)過(guò)結(jié)構(gòu)松弛的過(guò)渡狀態(tài),而直接一下發(fā)生斷裂,所以,電學(xué)參數(shù)得不到反應(yīng)。

   根據(jù)以L兩點(diǎn),認(rèn)為恒定加速度試驗(yàn)作為一種工藝篩選手段是非常合適的。但隨著在恒定加速度試驗(yàn)方面經(jīng)驗(yàn)的累積,有越來(lái)越多的試驗(yàn)結(jié)果違背了以上結(jié)論。從恒定加速度試驗(yàn)對(duì)密封性的影響中看到,恒定加速度試驗(yàn)并非是“無(wú)損”試驗(yàn)。內(nèi)引線與芯片在恒定加速度運(yùn)動(dòng)中受力狀態(tài)與一根金屬棒受力是不同的。

   恒定加速度試驗(yàn)應(yīng)注意的問(wèn)題

   恒定加速度試驗(yàn)Y1方向?qū)ζ骷䞍?nèi)部鍵合點(diǎn)、芯片等表現(xiàn)為拉力。有人用材料力學(xué)觀點(diǎn)解釋恒定加速度試驗(yàn)。根據(jù)材料力學(xué)概念,一根金屬棒受拉,只要拉力不超過(guò)材料的彈性限度,無(wú)論作用時(shí)問(wèn)長(zhǎng)短,都不能拉斷金屬棒,對(duì)材料本身的性能也不發(fā)生任何影響。但當(dāng)拉力大到足以破壞材料結(jié)構(gòu)時(shí),瞬間可將金屬棒拉斷。也就得出這樣一個(gè)結(jié)論:金屬棒是否被拉斷,僅與外加拉力大小有關(guān),而與拉力施加的時(shí)間、次數(shù)無(wú)關(guān)。按上述觀點(diǎn)安排了這方EEl的試驗(yàn)――持久試驗(yàn)與疲勞試驗(yàn),同時(shí)試驗(yàn)后檢測(cè)器件電學(xué)參數(shù)。試驗(yàn)結(jié)果大部分支持了以上觀點(diǎn)。


LE8575BFJC

   (1)在相同恒定加速應(yīng)力下,失效率與試驗(yàn)次數(shù)無(wú)關(guān)(疲勞試驗(yàn))。

   (2)在相同恒定加速應(yīng)力下,失效率與試驗(yàn)應(yīng)力保持時(shí)問(wèn)無(wú)關(guān)(持久試驗(yàn))。

   (3)恒定加速度試驗(yàn),對(duì)管子的電參數(shù)無(wú)影響。試驗(yàn)結(jié)果要么內(nèi)部某結(jié)構(gòu)被拉斷,產(chǎn)生開(kāi)路失效,要么器件內(nèi)部結(jié)構(gòu)無(wú)破壞性損傷,電參數(shù)不變。從而得出銣l下結(jié)論:

   ①恒定加速度試驗(yàn)是一種“無(wú)損”試驗(yàn),不是破壞性試驗(yàn)?梢哉J(rèn)為恒定加速度應(yīng)力對(duì)產(chǎn)品無(wú)應(yīng)力積累,產(chǎn)品不會(huì)隨測(cè)試時(shí)間與數(shù)產(chǎn)生疲勞失效。

   ②器件的失效是瞬間發(fā)生的,器件內(nèi)部結(jié)構(gòu)的破壞不經(jīng)過(guò)中間過(guò)渡狀態(tài)。即從完整牢固的結(jié)構(gòu)不經(jīng)過(guò)結(jié)構(gòu)松弛的過(guò)渡狀態(tài),而直接一下發(fā)生斷裂,所以,電學(xué)參數(shù)得不到反應(yīng)。

   根據(jù)以L兩點(diǎn),認(rèn)為恒定加速度試驗(yàn)作為一種工藝篩選手段是非常合適的。但隨著在恒定加速度試驗(yàn)方面經(jīng)驗(yàn)的累積,有越來(lái)越多的試驗(yàn)結(jié)果違背了以上結(jié)論。從恒定加速度試驗(yàn)對(duì)密封性的影響中看到,恒定加速度試驗(yàn)并非是“無(wú)損”試驗(yàn)。內(nèi)引線與芯片在恒定加速度運(yùn)動(dòng)中受力狀態(tài)與一根金屬棒受力是不同的。

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