內(nèi)引線與芯片在恒定加速度運(yùn)動(dòng)中受力狀態(tài)與一根金屬棒受力是不同的。

   (1)內(nèi)引線是彎曲的,兩端同定。橫向受力與金屬棒一端固定,另一端施加拉力(平行軸向)的情況是不同的。

LE88010BQC

   (2)進(jìn)行試驗(yàn)的不是單一金屬棒,而是不同金屬間連接起來的復(fù)雜結(jié)構(gòu)。由于恒定加速度應(yīng)力級(jí)水平變化不是連續(xù)的,而是躍變的,試驗(yàn)采用的恒定加速度應(yīng)力級(jí)水平,不可能正好接近于且稍大干器件所能承受的最大應(yīng)力,即不可能正好取在促使器件失效時(shí)的臨界狀態(tài)所需要的能量水平,所以,表現(xiàn)出失效是瞬間的,也就測(cè)不到反映失效前的過渡狀態(tài)的現(xiàn)象。如應(yīng)力等級(jí)增大,而器件早就斷裂失效了。同時(shí)前一個(gè)恒定加速度應(yīng)力級(jí)水平,又與器件發(fā)生失效的能量水平相差較多而看不到失效。所以,在大多數(shù)情況看不到過渡狀態(tài)。當(dāng)器件失效所需的能量水平與恒定加速度應(yīng)力水平相當(dāng)時(shí),就能看到前面所說的那種過渡狀態(tài)。器件內(nèi)部存在結(jié)構(gòu)缺陷,其失效的能量水平,就比結(jié)構(gòu)完美的器件失效要低得多。要達(dá)到篩選日的,就要選取最佳的篩選應(yīng)力級(jí)水平。這個(gè)應(yīng)力級(jí)水平,應(yīng)該選在稍高于有缺陷器件的失效能量水平,而遠(yuǎn)離完好器件失效時(shí)所需的能量水平,這樣才能達(dá)到無損篩選試驗(yàn)的日的。但有些“頑lAl”的缺陷,其失效所需的能量水平較高,在低的應(yīng)力級(jí)水平下篩選不掉。采用高的應(yīng)力級(jí)水平,雖然將這些有“頑固”缺陷的器件篩選下來,但這對(duì)完好器件也會(huì)產(chǎn)生不可忽視的損害,所以這樣的篩選是不可取的。