從圖22可以看出,產(chǎn)品的失效有三個階段,早期失效期、偶然失效期和耗損失效期。早期失效期的特點是開始時失效率高,后來逐漸降低。這類失效是由于產(chǎn)品存在先天不足的缺陷造成的,可通過篩選的手段剔除此類早期失效的產(chǎn)品。 HCPL-5630偶然失效期的特點是產(chǎn)品失效率低而穩(wěn)定,是產(chǎn)品最良好的工作階段。耗損失效期的特點是產(chǎn)品的失效率隨工作時間的增長而上升,這類失效是由于長期疲勞造成物理化學(xué)性能變化而引起的�？煽啃怨ぷ饕扇☆A(yù)防性檢修的辦法來提前更換接近耗損期的元器件,或采取發(fā)展長壽命元器件的辦法來延長產(chǎn)品的使用壽命。

   通常采用每小時百分之一或千小時的百分之一作為產(chǎn)品失效率的單位,但對具有高可靠要求的產(chǎn)品來說,需采用更小的單位。現(xiàn)在常采用菲特(∏T)作為基準(zhǔn)單位。

   這表示每千小時只允許有百萬分之一的失效概率。

    按照我國標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定,電子元器件的失效率可分為七個等級,見表⒉l。在GB/T17”-79標(biāo)準(zhǔn)中,失效率試驗分為定級試驗、維持試驗和升級試驗三種,試驗方案在該標(biāo)準(zhǔn)中有明確的要求,其試驗項目、試驗條件、失效標(biāo)準(zhǔn)、置信度等均應(yīng)由相關(guān)產(chǎn)品規(guī)范的可靠性試驗要求中規(guī)定。特殊試驗是指針對特殊用途的產(chǎn)品制定的試驗項目。例如,單粒子效應(yīng)試驗、穩(wěn)態(tài)總劑量輻射試驗、位移損傷效應(yīng)試驗、熱真空試驗、鍍錫(錫合金)晶須生長試驗等,是為了使產(chǎn)品適應(yīng)空間環(huán)境而制定的試驗項目,不是一般常規(guī)檢驗項目。