測(cè)試環(huán)境主要是測(cè)量點(diǎn)和測(cè)試工裝的影響。測(cè)量點(diǎn)與產(chǎn)品輸出引腳間的距離較長(zhǎng)時(shí),可能存在因接觸電阻或線電阻而引起的電壓降,使輸出電壓測(cè)試值偏小; LPO4812-103KLC同時(shí)由于寄生電容、地線可能引入干擾,給動(dòng)態(tài)參數(shù)輸出電壓變化的采集帶來(lái)困難。

   測(cè)試夾具也會(huì)直接影響到測(cè)試數(shù)據(jù)的可靠性。不合理的布線會(huì)產(chǎn)生較大的寄生、雜散電容,使電路阻抗發(fā)生改變,并可能將外界干擾信號(hào)耦合進(jìn)來(lái)從而使輸出波形變形。而測(cè)量點(diǎn)的放置位置也會(huì)影響到測(cè)試結(jié)果,尤其是在低電壓大電流輸出時(shí)線路上損耗不容忽視。對(duì)于滿載工作時(shí)的輸出電壓,當(dāng)電流較大時(shí)輸出線路上的電壓降就不能忽視了。如5V/5A的輸出,若線路電阻為0,01Ω,則線路損耗將達(dá)到50mV。此時(shí)應(yīng)將電壓測(cè)量點(diǎn)盡可能靠近引腳根部。對(duì)于紋波電壓、開關(guān)頻率等及動(dòng)態(tài)參數(shù),其瞬時(shí)值容易受到外界干擾,更應(yīng)注意此點(diǎn)。

   測(cè)試時(shí)間及順序安排

   測(cè)試時(shí)間過(guò)短,產(chǎn)品尚未建立穩(wěn)定輸出,測(cè)試儀表未有足夠的采樣周期完成計(jì)算,而不合理的測(cè)試順序可能使測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確,延長(zhǎng)測(cè)試時(shí)間,甚至可能損壞產(chǎn)品。應(yīng)先進(jìn)行簡(jiǎn)單功能測(cè)試,測(cè)試輸出電壓判斷是否具有輸出電壓功能,再進(jìn)行其他靜態(tài)參數(shù)測(cè)試,之后進(jìn)行動(dòng)態(tài)測(cè)試,最后進(jìn)行保護(hù)功能測(cè)試,結(jié)束測(cè)試前再次測(cè)試輸出電壓來(lái)判斷經(jīng)過(guò)保護(hù)功能測(cè)試后產(chǎn)品是否還能正常工作。