測試技術(shù)的發(fā)展趨勢G3MB-202P-12V

   由于微波電路及其組件的特殊性,目前尚缺乏通用的測試系統(tǒng),業(yè)界通常采用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、功率計(jì)等測試儀表搭建專用測試系統(tǒng),同時(shí)根據(jù)產(chǎn)品特點(diǎn)設(shè)計(jì)測試夾具,開展參數(shù)測試。在實(shí)際測試中,測試儀表及測試夾具都會(huì)對測試結(jié)果造成一定的影響,需要對測試儀表進(jìn)行計(jì)量校準(zhǔn),對夾具進(jìn)行“去嵌入”,以獲得準(zhǔn)確的微波特性參數(shù)。測試不同類型微波器件時(shí)都需要重新設(shè)計(jì)測試夾具,有針對性地搭建測試系統(tǒng)并進(jìn)行校準(zhǔn),耗費(fèi)大量人力物力,同時(shí)時(shí)間周期也相對較長。

   為解決這一問題,射頻微波測試技術(shù)不斷往通用化方向發(fā)展。以測試夾具為例,成本低、可拆卸性強(qiáng)、重復(fù)性好、能夠滿足不同尺寸和抽頭位置的微波通用測試夾具已逐漸在成為業(yè)界主流。如何改進(jìn)夾具的設(shè)計(jì)、工藝和材料,提高其使用次數(shù),同時(shí)有效消除測試過程中的自激振蕩現(xiàn)象,是未來測試夾具研究的重點(diǎn)。微波測試儀表目前發(fā)展方向主要是寬帶化、多參數(shù)化,即在盡可能寬的頻段范圍內(nèi)通過單次連接完成多參數(shù)測試,以滿足不同應(yīng)用領(lǐng)域、不同類型產(chǎn)品的測試需求�，F(xiàn)階段主要利用多個(gè)測試通道來實(shí)現(xiàn)多參數(shù)羊發(fā)測試,如何減小測試通道切換對測試結(jié)果的影響以及相互通道間的信號干擾是現(xiàn)階段關(guān)注的重點(diǎn)。