電容器的介質(zhì)材料種類(lèi)多樣
發(fā)布時(shí)間:2019/7/1 20:27:50 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù):2851
電容器
電容器的介質(zhì)材料種類(lèi)多樣,不同介質(zhì)材料的電容器具有各自的特點(diǎn),在具體的應(yīng)用中應(yīng)根據(jù)部分情況選用電容器。各類(lèi)電容器的主要應(yīng)用。 K4A4G165WD-BIRC
其所暴露的環(huán)境應(yīng)有明確的規(guī)定。
(1)環(huán)境溫度對(duì)電容器的影響
溫度變化對(duì)各類(lèi)電容器的電容量都有影響。原因是材料的介電常數(shù)隨溫度的變化而變化,圖⒐6和圖9-7是主要類(lèi)型的電容器的電容量與溫度的關(guān)系。
圖⒐7 電容量與溫度的關(guān)系
(2)環(huán)境濕度對(duì)電容器的影響
介質(zhì)受潮能使電容器介質(zhì)強(qiáng)度、壽命和絕緣電阻下降,并使功率因數(shù)上升。通常,在高濕度環(huán)境下工作的電容器一般應(yīng)是氣密封的,對(duì)非氣密封的壓力接觸結(jié)構(gòu),濕度有可能導(dǎo)致高接觸電阻或接觸電阻斷開(kāi)。
(3)老化
瓷介電容器的電容量隨時(shí)間變化呈對(duì)數(shù)曲線(xiàn),所有高介電常數(shù)的瓷介電容器都表現(xiàn)出老化特征。鈦酸鋇配方的高介電常數(shù)的陶瓷介質(zhì)顯示出居里點(diǎn)相變現(xiàn)象,即當(dāng)溫度在l⒛℃及其以上時(shí),組成陶瓷微觀(guān)結(jié)晶的細(xì)小晶體絕大部分是立方對(duì)稱(chēng)結(jié)構(gòu),而當(dāng)溫度在l90℃以下時(shí),這些晶體呈現(xiàn)四面體形狀,結(jié)晶體相轉(zhuǎn)換與老化之間的特定關(guān)系尚不明確,但己知的是結(jié)晶相轉(zhuǎn)換與老化是直接聯(lián)系的,當(dāng)晶體從立方相變?yōu)樗姆较鄷r(shí),介質(zhì)內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生壓力,隨后逐漸消除。每當(dāng)電容器被加熱至接近1⒛℃(居里點(diǎn)),所有發(fā)生的電容量降低現(xiàn)象都會(huì)恢復(fù)。一旦冷卻,老化循環(huán)將再次開(kāi)始,這一恢復(fù)過(guò)程通常稱(chēng)為“去老化”。老化與去老化的
整個(gè)過(guò)程是可預(yù)測(cè)的,并可能無(wú)限地重復(fù)。
另一個(gè)影響電容器老化的重要參數(shù)是施加極化電壓。施加數(shù)值大致等于電容器額定值的直流電壓時(shí),將導(dǎo)致電容量急劇降低,而撤去電壓后,電容器無(wú)法恢復(fù)到初始的極化值。
電容器
電容器的介質(zhì)材料種類(lèi)多樣,不同介質(zhì)材料的電容器具有各自的特點(diǎn),在具體的應(yīng)用中應(yīng)根據(jù)部分情況選用電容器。各類(lèi)電容器的主要應(yīng)用。 K4A4G165WD-BIRC
其所暴露的環(huán)境應(yīng)有明確的規(guī)定。
(1)環(huán)境溫度對(duì)電容器的影響
溫度變化對(duì)各類(lèi)電容器的電容量都有影響。原因是材料的介電常數(shù)隨溫度的變化而變化,圖⒐6和圖9-7是主要類(lèi)型的電容器的電容量與溫度的關(guān)系。
圖⒐7 電容量與溫度的關(guān)系
(2)環(huán)境濕度對(duì)電容器的影響
介質(zhì)受潮能使電容器介質(zhì)強(qiáng)度、壽命和絕緣電阻下降,并使功率因數(shù)上升。通常,在高濕度環(huán)境下工作的電容器一般應(yīng)是氣密封的,對(duì)非氣密封的壓力接觸結(jié)構(gòu),濕度有可能導(dǎo)致高接觸電阻或接觸電阻斷開(kāi)。
(3)老化
瓷介電容器的電容量隨時(shí)間變化呈對(duì)數(shù)曲線(xiàn),所有高介電常數(shù)的瓷介電容器都表現(xiàn)出老化特征。鈦酸鋇配方的高介電常數(shù)的陶瓷介質(zhì)顯示出居里點(diǎn)相變現(xiàn)象,即當(dāng)溫度在l⒛℃及其以上時(shí),組成陶瓷微觀(guān)結(jié)晶的細(xì)小晶體絕大部分是立方對(duì)稱(chēng)結(jié)構(gòu),而當(dāng)溫度在l90℃以下時(shí),這些晶體呈現(xiàn)四面體形狀,結(jié)晶體相轉(zhuǎn)換與老化之間的特定關(guān)系尚不明確,但己知的是結(jié)晶相轉(zhuǎn)換與老化是直接聯(lián)系的,當(dāng)晶體從立方相變?yōu)樗姆较鄷r(shí),介質(zhì)內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生壓力,隨后逐漸消除。每當(dāng)電容器被加熱至接近1⒛℃(居里點(diǎn)),所有發(fā)生的電容量降低現(xiàn)象都會(huì)恢復(fù)。一旦冷卻,老化循環(huán)將再次開(kāi)始,這一恢復(fù)過(guò)程通常稱(chēng)為“去老化”。老化與去老化的
整個(gè)過(guò)程是可預(yù)測(cè)的,并可能無(wú)限地重復(fù)。
另一個(gè)影響電容器老化的重要參數(shù)是施加極化電壓。施加數(shù)值大致等于電容器額定值的直流電壓時(shí),將導(dǎo)致電容量急劇降低,而撤去電壓后,電容器無(wú)法恢復(fù)到初始的極化值。
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