介質(zhì)耐電壓

   介質(zhì)耐電壓試驗(yàn)是指在規(guī)定時(shí)間內(nèi),在元器件的絕緣部件之間或絕緣部件與地之間施加規(guī)定的試驗(yàn)電壓,以考核元器件在此電壓下的耐受能力。 K4B1G1646E-HCH9為保證元器件在工作狀態(tài)不發(fā)生電壓擊穿,影響設(shè)備和元器件的正常運(yùn)行,所有出廠的元器件都應(yīng)進(jìn)行耐電壓試驗(yàn)。如果元器件有缺陷,則在施加試驗(yàn)電壓后,必然產(chǎn)生擊穿放電或損壞,擊穿放電表現(xiàn)為表面飛弧(表面放電)、火花(空氣放電)或擊穿(擊穿放電)現(xiàn)象。由于開關(guān)、浪涌等其他類似現(xiàn)象會(huì)使電路中產(chǎn)生較大電位波動(dòng),而過大漏電流可能引起參數(shù)或物理性能的改變,所以元器件必須有一定的耐受壓能力。

    引線電阻

    引線電阻即為引線的直流電阻,歐姆定律指出電壓、電流和電阻三者之間的關(guān)系為

   引線電容

   電荷在電場(chǎng)中會(huì)受力而移動(dòng),當(dāng)導(dǎo)體之間有了介質(zhì),則阻礙了電荷移動(dòng)而使得電荷累積在導(dǎo)體上,造成電荷的累積儲(chǔ)存,儲(chǔ)存的電荷量則稱為電容。引線間電容即為外殼引線間的分布電容。