測(cè)量速度快

   由于電子測(cè)量是通過電子技術(shù)實(shí)現(xiàn)的,因而測(cè)量速度很快。這也是電子測(cè)量在現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)得到廣泛應(yīng)用的一個(gè)重要原因。例如,洲際導(dǎo)彈的發(fā)射和運(yùn)行過程中就需要快速測(cè)出它的I作參數(shù),通過計(jì)算機(jī)運(yùn)算,再對(duì)它的運(yùn)行發(fā)出控制信號(hào),以使它達(dá)到預(yù)期的目標(biāo),這個(gè)過程如果測(cè)量速度較慢,就不能進(jìn)行及時(shí)調(diào)整,自動(dòng)控制系統(tǒng)就會(huì)失去作用。H5TQ1G43TFR-G7C

    同樣道理,I業(yè)自動(dòng)控制系統(tǒng)中,在生產(chǎn)線上進(jìn)行“在線測(cè)量”,及時(shí)對(duì)機(jī)械運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)或物質(zhì)成分的比例進(jìn)行調(diào)節(jié),這對(duì)于提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量都具有重大意義。在某些場(chǎng)合,要求對(duì)測(cè)量結(jié)果迅速進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,再發(fā)出控制信號(hào)。這樣,對(duì)測(cè)量速度就提出了更高的要求。

    在有些測(cè)量過程中,希望在相同條件下對(duì)同一量進(jìn)行多次測(cè)量,再用求平均值的方法以減小誤差。但是測(cè)量條件容易隨時(shí)間變化,這時(shí)可以采用提高測(cè)量速度的方法,在短時(shí)間內(nèi)完成多次測(cè)量,從而提高精密度。

    易于實(shí)現(xiàn)遙測(cè)和測(cè)量過程的自動(dòng)化

   對(duì)于人體不便于接觸和無(wú)法達(dá)到的區(qū)域,如深海、地下、高溫爐、核反應(yīng)堆等,可以將傳感器埋人其內(nèi)部,或者通過電磁波、光、輻射等方式進(jìn)行測(cè)量,這就是一般所說的遙測(cè)。電子測(cè)量同電子計(jì)算機(jī)相結(jié)合,使測(cè)量?jī)x器智能化,并在自動(dòng)化系統(tǒng)中占據(jù)重要的地位。尤其是大規(guī)模集成電路和微處理器的應(yīng)用,使電子測(cè)量呈現(xiàn)了嶄新的局面。例如,自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,自動(dòng)調(diào)節(jié),自動(dòng)校準(zhǔn),自動(dòng)記錄,自動(dòng)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,自動(dòng)修正等。

    電子測(cè)量技術(shù)的新水平是科學(xué)技術(shù)最新成果的反映。因此,一個(gè)國(guó)家電子測(cè)量技術(shù)的水平,標(biāo)志著這個(gè)國(guó)家科學(xué)技術(shù)的水平,這就促使電子測(cè)量技術(shù)獲得前所未有的迅速發(fā)展。

    易于實(shí)現(xiàn)儀器小型化、微型化

   隨著微電子器件集成度的不斷提高,可編程器件和微處理器及ASIC電路的采用,使電子儀器正向著小型化、微型化發(fā)展。特別是隨著模塊式儀器系統(tǒng)的采用,把多個(gè)儀器模塊連同計(jì)算機(jī)一起裝人一個(gè)機(jī)箱內(nèi),組成自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),使之更為緊湊。