解讀GJB128A一97

   GJB128A《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》是半導(dǎo)體分立器件可靠性試驗(yàn)的重要標(biāo)準(zhǔn),其規(guī)定了半導(dǎo)體分立器件的通用試驗(yàn)方法,包括實(shí)際應(yīng)用條件下抗損害能力的基本環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械性能試驗(yàn)和電特性測(cè)試。方法中描述的都是電特性測(cè)試方法。 ECG005-G

   GJB128A主要參考的是MIL-sTD-750E,并結(jié)合具體情況對(duì)其進(jìn)了行部分修正,對(duì)分立器件的可靠性試驗(yàn)方法規(guī)定得比較詳細(xì),對(duì)一些器件的測(cè)試方法未能全面介紹。例如,對(duì)晶體管的測(cè)試參數(shù)僅規(guī)定了集電極一發(fā)射極擊穿電壓,其余大量參數(shù)未加介紹。

   注意事項(xiàng):

   (1)試驗(yàn)條件:除非于詳細(xì)規(guī)范中另有明確規(guī)定,所有的測(cè)量和壽命試驗(yàn)均應(yīng)在25℃±3℃環(huán)境溫度,環(huán)境大氣壓及相對(duì)濕度下熱平衡的情況下進(jìn)行。試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件為:

   溫度:15℃~35℃

   相對(duì)濕度:20%~80%

   氣壓:86~106kPa

   (2)電測(cè)試條件:除非于產(chǎn)品規(guī)范中另有明確規(guī)定,半導(dǎo)體器件不應(yīng)承受超過器件最大額定值的工作條件。預(yù)防方法包括限制最大的瞬時(shí)電流和電壓。通常要求大串聯(lián)電阻值(恒流源)及小電容量。測(cè)試截止電流或反向電流小的器件時(shí),要注意保證電路的寄生電流或外部漏電流小于被測(cè)器件的反向電流或截止電流。

   (3)脈沖測(cè)試:當(dāng)在脈沖條件下測(cè)試靜態(tài)及動(dòng)態(tài)參數(shù)時(shí),為了避免在測(cè)量時(shí)由于器件發(fā)熱引起誤差,除非于詳細(xì)規(guī)范中另有明確規(guī)定,脈沖測(cè)試的時(shí)間不大于10ms,占空比最大為2%。在此范圍內(nèi),脈沖必須長至足以適應(yīng)實(shí)驗(yàn)設(shè)備的能力和所要求的準(zhǔn)確度.

   (4)測(cè)試電路:標(biāo)準(zhǔn)中的電路僅僅是可用測(cè)試電路的示例,當(dāng)然他們未必是唯一可用的電路,只要測(cè)試單位能證明其他電路所給出的結(jié)果不會(huì)超過要求的準(zhǔn)確度,也可以使用其他電路。

   (5)測(cè)試方法的改變:為了測(cè)試電參數(shù),允許改變規(guī)定的測(cè)試方法,但應(yīng)在測(cè)試之前得到確認(rèn),在改變時(shí)應(yīng)做出測(cè)試方法的誤差分析。