自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展簡(jiǎn)介 JS29F32G08AAMDB

   自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)經(jīng)歷了從專用型、臺(tái)式積木型到模擬化集成型三個(gè)階段的發(fā)展過(guò)程。在初期僅側(cè)重于自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)本體的研制和應(yīng)用,隨后重點(diǎn)建立整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的體系結(jié)構(gòu),同時(shí)注重ATE研制和測(cè)試程序集(TPS,Te哎h。gram%t)開(kāi)發(fā)和可移植領(lǐng)域,以及人工智能在自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中的應(yīng)用。目前,ATE正向分布式的集成診斷測(cè)試發(fā)展。

    第一代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)大多數(shù)為專用型系統(tǒng),是針對(duì)具體測(cè)試項(xiàng)目而研制的。它主要應(yīng)用于測(cè)試工作量極大的重復(fù)測(cè)試,高可靠性的復(fù)雜測(cè)試,在短時(shí)間內(nèi)為提高測(cè)試速度必須要完成的規(guī)定測(cè)試,以及操作人員難以進(jìn)入的惡劣環(huán)境測(cè)試。

    專用型測(cè)試系統(tǒng)至今仍在應(yīng)用,各式各樣的針對(duì)特定測(cè)試對(duì)象的智能檢測(cè)儀就是其中的典型例子。隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展,特別是隨著單片機(jī)與嵌人式系統(tǒng)應(yīng)用技術(shù)、以及能支持第一代測(cè)試系統(tǒng)快速組成計(jì)算機(jī)總線(PC△⒄)技術(shù)的飛速發(fā)展,這類自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)已具有新的測(cè)試方法、研制策略和技術(shù)支持。第一代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是從人工測(cè)試向自動(dòng)測(cè)試邁出的重要一步,它在測(cè)試功能、性能、測(cè)試速度和效率,以及使用方便等方面明顯優(yōu)于人工測(cè)試,使用這類系統(tǒng)能夠完成一些人

工測(cè)試無(wú)法完成的測(cè)試任務(wù)。

   專用型自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)也存在著明顯的不足,即儀器與儀器、儀器與計(jì)算機(jī)之間的接口及標(biāo)準(zhǔn)化方面,具體是指所選儀器/設(shè)備的復(fù)用性、通用性和互換性較差。