在定制設(shè)計(jì)環(huán)境中，設(shè)計(jì)人員可以在寄生參數(shù)視圖和電路設(shè)計(jì)視圖之間交叉探測(cè)，可將提取到的寄生參數(shù)標(biāo)示于電路設(shè)計(jì)圖中并執(zhí)行可視化調(diào)試。StarRC還可對(duì)性能進(jìn)行充分優(yōu)化，以得到更精簡(jiǎn)的網(wǎng)表從而減少對(duì)存儲(chǔ)空間的要求，而這將大大減少后續(xù)工具的仿真時(shí)間。

SMIC和Synopsys的合作結(jié)果是在SMIC的28nm PDK為客戶提供合格的StarRC技術(shù)文件，從而可使用物理級(jí)準(zhǔn)確的高效提取解決方案來(lái)進(jìn)行針對(duì)SMIC 28nm節(jié)點(diǎn)的設(shè)計(jì)。

相較于其他傳統(tǒng)方法和工具，F(xiàn)loEFD 不僅可以將設(shè)計(jì)周期時(shí)間縮短一個(gè)數(shù)量級(jí)，同時(shí)還能提高設(shè)計(jì)質(zhì)量：

強(qiáng)大的 3D 流體流動(dòng)和熱傳遞分析軟件，能夠用于解決復(fù)雜且真實(shí)的工程問(wèn)題。

FloEFD 技術(shù)已完全嵌入在 Solid Edge 中。利用這一技術(shù)，用戶能夠開(kāi)展多項(xiàng)設(shè)計(jì)研究，并立即評(píng)估修改方案對(duì)設(shè)計(jì)性能產(chǎn)生的影響。

擁有直觀的用戶界面以及內(nèi)置的智能自動(dòng)化程序，不僅能提供實(shí)時(shí)反饋，還能迅速通過(guò) Microsoft Word 和 Excel 及時(shí)輸出結(jié)果。

StarRC™產(chǎn)品作為其28nm工藝技術(shù)的寄生參數(shù)提取的標(biāo)準(zhǔn)解決方案。這一標(biāo)準(zhǔn)化是SMIC和Synopsys不斷加深合作的結(jié)果，可為共同的客戶提供最佳的解決方案，滿足他們不斷增長(zhǎng)的對(duì)先進(jìn)節(jié)點(diǎn)上的準(zhǔn)確性、性能和效率的要求。

StarRC產(chǎn)品具有廣泛的適用性，從億門(mén)級(jí)數(shù)字系統(tǒng)芯片(SoC)設(shè)計(jì)到定制內(nèi)存、IP、標(biāo)準(zhǔn)單元和模擬設(shè)計(jì)均包括在內(nèi)。它與Synopsys IC Compiler™ II布局布線和PrimeTime®靜態(tài)時(shí)序分析集成后，允許設(shè)計(jì)人員實(shí)現(xiàn)更快的ECO設(shè)計(jì)收斂，同時(shí)減少所用磁盤(pán)空間和處理器內(nèi)核資源。

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