傳感器的平均功耗為70μA非接觸式無磨損的測量原理
發(fā)布時間:2021/5/30 23:38:14 訪問次數(shù):579
TRK38的鋁制外殼和整體設(shè)計,使其即使在不利條件下(例如振動和沖擊負(fù)載)也能提供較長的使用壽命。其非接觸式、無磨損的測量原理也對此做出了重大貢獻(xiàn)。
憑借這種特性,TRK38適用于各種安全應(yīng)用。
與TWK開發(fā)的許多產(chǎn)品一樣,它也是根據(jù)客戶要求而開發(fā),他們之前無法在相關(guān)供應(yīng)商那里找到這種用于安全應(yīng)用的極其緊湊而堅固的單匝編碼器。
TWK為此類要求做好了充分的準(zhǔn)備。
制造商:Texas Instruments 產(chǎn)品種類:精密放大器 系列: CMRR - 共模抑制比:85 dB 最小工作溫度:- 40 C 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風(fēng)格:Through Hole 封裝 / 箱體:MDIP-14 封裝:Tube 高度:3.3 mm 輸入類型:Rail-to-Rail 長度:19.05 mm 輸出類型:Rail-to-Rail 產(chǎn)品:Operational Amplifiers 電源類型:Single 技術(shù):CMOS 寬度:6.35 mm 商標(biāo):Texas Instruments In—輸入噪聲電流密度:0.0002 pA/sqrt Hz 工作電源電壓:5 V, 9 V, 12 V, 15 V 產(chǎn)品類型:Precision Amplifiers PSRR - 電源抑制比:66 dB 25 子類別:Amplifier ICs 電壓增益 dB:132.04 dB 單位重量:1.106 g
TMD2636傳感器模塊在2.0mm x 1.0mm x 0.35mm透明填充封裝中集成一個940nm的紅外(IR)垂直腔體表面發(fā)射激光器(VCSEL)、近紅外光電探測器、復(fù)雜的控制電路。
在工作模式下,此傳感器的平均功耗為70μA,在睡眠模式下,則為0.7μA。TMD2636模塊的節(jié)能優(yōu)勢至關(guān)重要,尤其是對于電池容量和尺寸都很小的無線耳塞產(chǎn)品而言。
TMD2636基于艾邁斯半導(dǎo)體的多種創(chuàng)新技術(shù)而開發(fā),包括光電探測器技術(shù)、光學(xué)封裝設(shè)計,以及工廠測試和校準(zhǔn)。
(素材來源:ttic和eccn.如涉版權(quán)請聯(lián)系刪除。特別感謝)
TRK38的鋁制外殼和整體設(shè)計,使其即使在不利條件下(例如振動和沖擊負(fù)載)也能提供較長的使用壽命。其非接觸式、無磨損的測量原理也對此做出了重大貢獻(xiàn)。
憑借這種特性,TRK38適用于各種安全應(yīng)用。
與TWK開發(fā)的許多產(chǎn)品一樣,它也是根據(jù)客戶要求而開發(fā),他們之前無法在相關(guān)供應(yīng)商那里找到這種用于安全應(yīng)用的極其緊湊而堅固的單匝編碼器。
TWK為此類要求做好了充分的準(zhǔn)備。
制造商:Texas Instruments 產(chǎn)品種類:精密放大器 系列: CMRR - 共模抑制比:85 dB 最小工作溫度:- 40 C 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風(fēng)格:Through Hole 封裝 / 箱體:MDIP-14 封裝:Tube 高度:3.3 mm 輸入類型:Rail-to-Rail 長度:19.05 mm 輸出類型:Rail-to-Rail 產(chǎn)品:Operational Amplifiers 電源類型:Single 技術(shù):CMOS 寬度:6.35 mm 商標(biāo):Texas Instruments In—輸入噪聲電流密度:0.0002 pA/sqrt Hz 工作電源電壓:5 V, 9 V, 12 V, 15 V 產(chǎn)品類型:Precision Amplifiers PSRR - 電源抑制比:66 dB 25 子類別:Amplifier ICs 電壓增益 dB:132.04 dB 單位重量:1.106 g
TMD2636傳感器模塊在2.0mm x 1.0mm x 0.35mm透明填充封裝中集成一個940nm的紅外(IR)垂直腔體表面發(fā)射激光器(VCSEL)、近紅外光電探測器、復(fù)雜的控制電路。
在工作模式下,此傳感器的平均功耗為70μA,在睡眠模式下,則為0.7μA。TMD2636模塊的節(jié)能優(yōu)勢至關(guān)重要,尤其是對于電池容量和尺寸都很小的無線耳塞產(chǎn)品而言。
TMD2636基于艾邁斯半導(dǎo)體的多種創(chuàng)新技術(shù)而開發(fā),包括光電探測器技術(shù)、光學(xué)封裝設(shè)計,以及工廠測試和校準(zhǔn)。
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