內(nèi)存測試產(chǎn)能和DRAM測試儀短缺現(xiàn)象已開始浮現(xiàn)，并在供應鏈中引發(fā)各種問題。許多獨立的IC測試公司無法滿足客戶的大量需求，特別是對于DDR SDRAM的測試需求。分析師表示，實際上，市場上的DDR-1和DDR-2內(nèi)存測試產(chǎn)能都嚴重不足。

　　分析師還相信，日本Advantest Corp的新式和先進的DRAM測試儀也是供不應求。Advantest是全球最大的存儲器件測試儀供應商。據(jù)稱，DRAM制造商已經(jīng)受到這些問題的沖擊。一些生產(chǎn)DRAM的芯片代工廠商也感覺到了這個問題的影響。

　 “我們發(fā)現(xiàn)測試產(chǎn)能短缺。我們沒有足夠的測試能力�！本A代工廠商中芯國際的總裁張汝京表示。該公司為Elpida、Infineon等公司生產(chǎn)DRAM，隨后交給包括臺灣ChipMOS Technologies在內(nèi)的第三方測試公司。

　　美國投資銀行雷曼兄弟(Lehman Brothers)的分析師Ted Parmigiani表示，內(nèi)存測試產(chǎn)能短缺問題在第三季度突然出現(xiàn)，但在第四季度變得更加突出。

　　至少有兩個原因造成測試產(chǎn)能短缺，首先是先進的DRAM由leadframe轉(zhuǎn)向BGA封裝，延長了總體測試時間；其次DDR測試儀也短缺。

　 （文章來源：國際電子商情）