升壓轉(zhuǎn)換器10納米級DRAM節(jié)點的第3代或第4代二極管排查
發(fā)布時間:2022/5/28 19:43:34 訪問次數(shù):140
24、12和5伏設(shè)備為每個電壓要求單獨的電源會很昂貴,并且需要將220伏交流電引入子面板。
當提供不同的輸入電平時,這些稱為DC-DC轉(zhuǎn)換器的設(shè)備可用于輸出單個DC電壓。存在兩個這樣的轉(zhuǎn)換器系列。首先,最常見的是直流降壓轉(zhuǎn)換器,它將輸入電壓降低到較低的穩(wěn)定輸出。另一種稱為升壓轉(zhuǎn)換器,可將輸入電壓升高到輸出。
對于工業(yè)應用,可能會出現(xiàn)24伏的輸入饋電并進一步降低到12和5伏,因此24伏是常見的DC-DC轉(zhuǎn)換器輸入.當輸入電源用于電機或其他負載設(shè)備時,轉(zhuǎn)換器的輸入范圍為10-30伏(類似于許多離散傳感器)或高達90伏直流電。
損傷容限結(jié)構(gòu)在規(guī)定的未修使用周期內(nèi),抵抗由于缺裂紋或其他損傷造成的破壞的能力。也可以說是在保證結(jié)構(gòu)安全可靠地工作到下次檢查的條件下,允許結(jié)構(gòu)存在缺陷和損傷。
焊接不良可能出現(xiàn)在DC/DC 變流器IC及其外圍器件上,分為兩種情況:相鄰pin腳短接和pin腳虛焊。短接問題通過觀察pin腳焊接情況并且測試相鄰pin阻抗確定,IC的pin腳虛焊可利用IC內(nèi)部的二極管排查。
裂紋擴展壽命在設(shè)計應力譜作用下,til初始裂紋擴展到臨界裂紋時所得的壽命。
當在一片系統(tǒng)板子上發(fā)現(xiàn)問題的時候,首先要做的是嘗試在另外一片或多片板子上重復現(xiàn)象。如果現(xiàn)象無法重復,那么問題可能是由于焊接不良或者IC損壞導致的。
DDR5 SDRAM標準(JESD79-5A),包括密集型云和企業(yè)數(shù)據(jù)中心應用驅(qū)動的需求要求,為開發(fā)人員提供了兩倍的性能和大大提高的能效。
為了更高的密度和更高的性能,DDR5有望采用最先進的DRAM單元技術(shù)節(jié)點,例如D1z或D1a(D1) 代,這是10納米級DRAM節(jié)點的第3代或第4代。DDR5內(nèi)存包含多項創(chuàng)新和新的DIMM架構(gòu),可實現(xiàn)速度等級跳躍并支持未來擴展。
24、12和5伏設(shè)備為每個電壓要求單獨的電源會很昂貴,并且需要將220伏交流電引入子面板。
當提供不同的輸入電平時,這些稱為DC-DC轉(zhuǎn)換器的設(shè)備可用于輸出單個DC電壓。存在兩個這樣的轉(zhuǎn)換器系列。首先,最常見的是直流降壓轉(zhuǎn)換器,它將輸入電壓降低到較低的穩(wěn)定輸出。另一種稱為升壓轉(zhuǎn)換器,可將輸入電壓升高到輸出。
對于工業(yè)應用,可能會出現(xiàn)24伏的輸入饋電并進一步降低到12和5伏,因此24伏是常見的DC-DC轉(zhuǎn)換器輸入.當輸入電源用于電機或其他負載設(shè)備時,轉(zhuǎn)換器的輸入范圍為10-30伏(類似于許多離散傳感器)或高達90伏直流電。
損傷容限結(jié)構(gòu)在規(guī)定的未修使用周期內(nèi),抵抗由于缺裂紋或其他損傷造成的破壞的能力。也可以說是在保證結(jié)構(gòu)安全可靠地工作到下次檢查的條件下,允許結(jié)構(gòu)存在缺陷和損傷。
焊接不良可能出現(xiàn)在DC/DC 變流器IC及其外圍器件上,分為兩種情況:相鄰pin腳短接和pin腳虛焊。短接問題通過觀察pin腳焊接情況并且測試相鄰pin阻抗確定,IC的pin腳虛焊可利用IC內(nèi)部的二極管排查。
裂紋擴展壽命在設(shè)計應力譜作用下,til初始裂紋擴展到臨界裂紋時所得的壽命。
當在一片系統(tǒng)板子上發(fā)現(xiàn)問題的時候,首先要做的是嘗試在另外一片或多片板子上重復現(xiàn)象。如果現(xiàn)象無法重復,那么問題可能是由于焊接不良或者IC損壞導致的。
DDR5 SDRAM標準(JESD79-5A),包括密集型云和企業(yè)數(shù)據(jù)中心應用驅(qū)動的需求要求,為開發(fā)人員提供了兩倍的性能和大大提高的能效。
為了更高的密度和更高的性能,DDR5有望采用最先進的DRAM單元技術(shù)節(jié)點,例如D1z或D1a(D1) 代,這是10納米級DRAM節(jié)點的第3代或第4代。DDR5內(nèi)存包含多項創(chuàng)新和新的DIMM架構(gòu),可實現(xiàn)速度等級跳躍并支持未來擴展。
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