電容充放電性能直接影響到微處理器供電電路的退藕性能
發(fā)布時間:2022/11/9 13:29:44 訪問次數(shù):154
固態(tài)鋁電解電容具有極長的使用壽命(使用壽命超過50年)。與液態(tài)鋁電解電容相比,可以算作“長命百歲”了。它不會被擊穿,也不必擔心液態(tài)電解質(zhì)干涸以及外泄影響主板穩(wěn)定性。由于沒有液態(tài)電解質(zhì)諸多問題的困擾,固態(tài)鋁電解電容使主板更加穩(wěn)定可靠。
固態(tài)的電解質(zhì)在高熱環(huán)境下不會像液態(tài)電解質(zhì)那樣蒸發(fā)膨脹,甚至燃燒。即使電容的溫度超過其耐受極限,固態(tài)電解質(zhì)僅僅是熔化,這樣不會引發(fā)電容金屬外殼爆裂,因而十分安全。
工作溫度直接影響到電解電容的壽命,固態(tài)電解電容與液態(tài)電解電容在不同溫度環(huán)境下壽命明顯較長。
ESR越低,電容充放電的速度越快,這個性能直接影響到微處理器供電電路的退藕性能,在高頻電路中固態(tài)電解電容的低ESR特性的優(yōu)勢更加明顯。
基于數(shù)據(jù)的聚類法進行預(yù)測,避免了復(fù)雜的調(diào)參過程,提升了預(yù)測的效率。吳耀武等人采用Dempster合成法與yager組合規(guī)則,提出了基于改進證據(jù)理論的預(yù)測模型。
為了改進BP網(wǎng)絡(luò)初始權(quán)重和閾值難以確定導(dǎo)致的模型預(yù)測精度較低的問題,可以采用蟻群算法(ACO)進行尋優(yōu),但蟻群算法同樣可能由于信息素更新問題陷入局部最優(yōu)或訓(xùn)練時間過長。
設(shè)計人員可通過減小封裝尺寸、大幅提高功率密度并節(jié)省電路板空間,降低BOM成本和生產(chǎn)成本。
其柵極-源極閾值電壓(V(GS),th)為3V,V(GS),th最低變化范圍為±0.5V,可方便新器件的設(shè)計導(dǎo)入和驅(qū)動,提高了設(shè)計自由度;利用低閾值電壓和容差可避免使用MOSFET線性模式,降低了驅(qū)動電壓和閑置損耗。
固態(tài)鋁電解電容具有極長的使用壽命(使用壽命超過50年)。與液態(tài)鋁電解電容相比,可以算作“長命百歲”了。它不會被擊穿,也不必擔心液態(tài)電解質(zhì)干涸以及外泄影響主板穩(wěn)定性。由于沒有液態(tài)電解質(zhì)諸多問題的困擾,固態(tài)鋁電解電容使主板更加穩(wěn)定可靠。
固態(tài)的電解質(zhì)在高熱環(huán)境下不會像液態(tài)電解質(zhì)那樣蒸發(fā)膨脹,甚至燃燒。即使電容的溫度超過其耐受極限,固態(tài)電解質(zhì)僅僅是熔化,這樣不會引發(fā)電容金屬外殼爆裂,因而十分安全。
工作溫度直接影響到電解電容的壽命,固態(tài)電解電容與液態(tài)電解電容在不同溫度環(huán)境下壽命明顯較長。
ESR越低,電容充放電的速度越快,這個性能直接影響到微處理器供電電路的退藕性能,在高頻電路中固態(tài)電解電容的低ESR特性的優(yōu)勢更加明顯。
基于數(shù)據(jù)的聚類法進行預(yù)測,避免了復(fù)雜的調(diào)參過程,提升了預(yù)測的效率。吳耀武等人采用Dempster合成法與yager組合規(guī)則,提出了基于改進證據(jù)理論的預(yù)測模型。
為了改進BP網(wǎng)絡(luò)初始權(quán)重和閾值難以確定導(dǎo)致的模型預(yù)測精度較低的問題,可以采用蟻群算法(ACO)進行尋優(yōu),但蟻群算法同樣可能由于信息素更新問題陷入局部最優(yōu)或訓(xùn)練時間過長。
設(shè)計人員可通過減小封裝尺寸、大幅提高功率密度并節(jié)省電路板空間,降低BOM成本和生產(chǎn)成本。
其柵極-源極閾值電壓(V(GS),th)為3V,V(GS),th最低變化范圍為±0.5V,可方便新器件的設(shè)計導(dǎo)入和驅(qū)動,提高了設(shè)計自由度;利用低閾值電壓和容差可避免使用MOSFET線性模式,降低了驅(qū)動電壓和閑置損耗。
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