多鎖相環(huán)（MPLL）、前饋均衡（FFE）、連續(xù)時間線性均衡（CTLE）和可編程決策反饋均衡（DFE）等技術(shù)來提高高損耗和不穩(wěn)定通道中的信號完整性。

PHY支持自動測試設(shè)備（ATE）的測試功能,小面積和可選的引線鍵合封裝等功能降低了整體BOM成本。

此外，Synopsys用于PCIe架構(gòu)的驗證IP（VIP）與System Verilog源代碼測試套件結(jié)合在一起，可以支持低功耗場景的驗證。該VIP提供控制方式進出和切換低功耗子狀態(tài)。它監(jiān)控低功耗的狀態(tài),同時測試套件提供了一套專用的測試方法來驗證L1低功耗狀態(tài)的功能。

LTM4675包括EEPROM、功率MOSFET、電感器和支持性組件。該器件具快速、雙模擬控制環(huán)路和精準的混合信號電路。LTM4675與更大型封裝(16mmx16mm BGA)、更大功率的雙通道13A LTM4676A是完全引腳兼容的，從而無需更改布局，以便系統(tǒng)設(shè)計師在原型設(shè)計階段可容易地于器件之間進行開關(guān)切換。

集成電路的引腳排列次序有一定的規(guī)律,一般是從外殼頂部向下看,從左下角按逆時針方向讀數(shù),其中第一腳附近一般有參考標志,如凹槽、色點等。常見集成電路的外形和封裝形式。

單列直插集成電路是它的引腳只有一列,且引腳為直的(不是彎曲的).這類集成電路的引腳分布規(guī)律。

金屬膜技術(shù)制造，為照明鎮(zhèn)流器和LED驅(qū)動、工業(yè)逆變器和轉(zhuǎn)換器、電池管理系統(tǒng)和醫(yī)療設(shè)備中的高壓電路提供了經(jīng)過驗證的可靠性。在這些應(yīng)用里，電阻可替換較大外形尺寸的器件、相似外形尺寸的多個電阻和引線電阻，從而節(jié)省空間，簡化設(shè)計。