電解電容器的壽命電子元件結(jié)束形式為磨損故障，決定壽命的主要因素為靜電容量，損失角的正切（tanδ），漏電流等，隨著時間的推移，靜電容量減少，tanδ增大，漏電流在外加電壓時有增加的趨勢，所以對負(fù)荷的壽命影響不大。

壽命的判定，用百分比來表示靜電容量相對于起始值的變化率，一般達(dá)到-20%以下時即告壽命結(jié)束,tanδ的值在超過規(guī)定值時壽命結(jié)束，漏電流在零負(fù)荷的情況下有增加的趨勢

由于D類音頻放大器輸出級的導(dǎo)通電阻極低（典型值：24.4mΩ），在無散熱片的情況下，MA5332MS可為4Ω的負(fù)載提供2x100W的恒定功率；

對于施加的恒定激勵電流能全部流過被測電阻的情況下，使用上述方法測試是很簡便的，比如測試單個電阻，但我們還常常遇到被測電阻與一個電阻網(wǎng)絡(luò)并聯(lián)的情況，這個電阻網(wǎng)絡(luò)會對施加電流有分流作用，導(dǎo)致無法采用上述方法進(jìn)行測試。

控制軟啟動操作的全新內(nèi)部邏輯控制方法，使得點擊噪音進(jìn)一步減小。得益于功能的改進(jìn)，MA5332MS可降低BOM(物料清單)成本和散熱需求，能為工業(yè)設(shè)計帶來更多空間，且能實現(xiàn)卓越的效率和低輸出失真。

D類音頻功放兼具體積小、發(fā)熱少、集成度高和高清音質(zhì)等優(yōu)勢。通過釋放英飛凌領(lǐng)先的電源MOSFET技術(shù)的巨大潛力，

MERUS™雙通道、模擬輸入D類音頻放大器多芯片模塊（MCM）MA5332MS。

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