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硅MOSFET體二極管從而消除了與硅器件相關的反向恢復電荷

發(fā)布時間:2024/7/14 10:46:19 訪問次數(shù):115

隨著物聯(lián)網(wǎng)的普及,白色家電和工業(yè)設備的自動化進程加速,使得產(chǎn)品的功耗不斷增加,為了有效利用有限的地球資源和電力,對進一步降低功耗的需求不斷提高,與此同時,對于負責功率轉換工作的功率半導體之一IGBT以及配備了IGBT的模塊,也提出了進一步降低功耗的要求。

另一方面,在IGBT IPM的開發(fā)中,為了降低功耗通常會優(yōu)先考慮低損耗,致使產(chǎn)品噪聲特性惡化的情況較多,這就需要改善噪聲特性。

在這種情況下,新開發(fā)出四款可同時降低輻射噪聲和功率損耗、并在這兩方面均實現(xiàn)了業(yè)內(nèi)超高特性的IGBT IPM系列產(chǎn)品。

GaN能夠為電機驅動應用實現(xiàn)更好的死區(qū)時間優(yōu)化:

與硅MOSFET相比,GaN FET具有更快的開關速度。這允許對死區(qū)時間進行更精確的控制,因為GaN FET的關斷和開啟時間明顯更短。這種更快的開關速度允許對死區(qū)時間進行更嚴格的控制。

與硅MOSFET相比,GaN FET具有更低的柵極電容。這意味著它們可以更快地打開和關閉,從而縮短死區(qū)時間,而不會產(chǎn)生擊穿電流的風險。這可以實現(xiàn)更高效的運行,并更好地優(yōu)化電機驅動應用中的死區(qū)時間。

GaN FET沒有像硅MOSFET那樣的體二極管,從而消除了與硅器件相關的反向恢復電荷。這減少了電機驅動應用中所需的有效死區(qū)時間,因為無需考慮體二極管的恢復時間。

通過外部多路復用器和信號調(diào)理,SAR ADC可在需要功能安全的應用中用于驗證Σ-Δ型ADC測量結果。此外,AD7779 SAR ADC內(nèi)置一個多路復用器,可用來檢測內(nèi)部節(jié)點。

控制死區(qū)時間由控制器插入,可確保正有效死區(qū)時間。計算此死區(qū)時間是一個復雜的過程,需要考慮傳播延遲、柵極電阻值和FET開啟/關閉時間等因素。由于GaN器件沒有體二極管反向恢復且開關時間更快,因此與硅MOSFET相比,GaN器件的死區(qū)時間更短。

這些電流不會產(chǎn)生任何有用的扭矩,但會導致電機繞組損耗增加,整體效率降低。

LM2594HVMX-5.0/NOPB

http://jhbdt1.51dzw.com深圳市俊暉半導體有限公司

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另一方面,在IGBT IPM的開發(fā)中,為了降低功耗通常會優(yōu)先考慮低損耗,致使產(chǎn)品噪聲特性惡化的情況較多,這就需要改善噪聲特性。

在這種情況下,新開發(fā)出四款可同時降低輻射噪聲和功率損耗、并在這兩方面均實現(xiàn)了業(yè)內(nèi)超高特性的IGBT IPM系列產(chǎn)品。

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與硅MOSFET相比,GaN FET具有更快的開關速度。這允許對死區(qū)時間進行更精確的控制,因為GaN FET的關斷和開啟時間明顯更短。這種更快的開關速度允許對死區(qū)時間進行更嚴格的控制。

與硅MOSFET相比,GaN FET具有更低的柵極電容。這意味著它們可以更快地打開和關閉,從而縮短死區(qū)時間,而不會產(chǎn)生擊穿電流的風險。這可以實現(xiàn)更高效的運行,并更好地優(yōu)化電機驅動應用中的死區(qū)時間。

GaN FET沒有像硅MOSFET那樣的體二極管,從而消除了與硅器件相關的反向恢復電荷。這減少了電機驅動應用中所需的有效死區(qū)時間,因為無需考慮體二極管的恢復時間。

通過外部多路復用器和信號調(diào)理,SAR ADC可在需要功能安全的應用中用于驗證Σ-Δ型ADC測量結果。此外,AD7779 SAR ADC內(nèi)置一個多路復用器,可用來檢測內(nèi)部節(jié)點。

控制死區(qū)時間由控制器插入,可確保正有效死區(qū)時間。計算此死區(qū)時間是一個復雜的過程,需要考慮傳播延遲、柵極電阻值和FET開啟/關閉時間等因素。由于GaN器件沒有體二極管反向恢復且開關時間更快,因此與硅MOSFET相比,GaN器件的死區(qū)時間更短。

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