目前國內(nèi)電腦內(nèi)存條及配套產(chǎn)品、語言復(fù)讀機、ｄｖｄ機以及數(shù)碼相機、數(shù)碼錄音、ｍｐ３等方面，對存儲器電路需求量超過８０００萬只，隨著各類電子產(chǎn)品的數(shù)碼化和大容量化，對存儲器電路的需求還將大幅增長，對存儲器集成電路測試系統(tǒng)的需求也就越來越迫切。　大容量存儲器集成電路的測試系統(tǒng)是科技型中小企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新基金項目，是根據(jù)大容量存儲器集成電路ｓｄｒａｍ、ｄｄｒ�。螅洌颍幔砗停海妫欤幔螅琛。颍幔淼陌l(fā)展趨勢而研究開發(fā)的測試系統(tǒng)。方案的主要內(nèi)容為測試方法和測試程序研究開發(fā)，其次是測試板、適配器及生產(chǎn)性測試設(shè)備的研制和設(shè)備結(jié)構(gòu)制作和調(diào)試等。特點是基于大容量存儲器集成電路的結(jié)構(gòu)，采用全新的測試技術(shù)理論和較通用的測試設(shè)備，實現(xiàn)實驗室精確測試和生產(chǎn)中大批量芯片中測及成品測試。目前對高兆位存儲器電路能大批量測試的設(shè)備非常昂貴，低價的專用存儲器電路測試儀又不能滿足測試的可靠性和通用性要求，因此該項目將大大提高國內(nèi)存儲器電路的生產(chǎn)能力，降低產(chǎn)品成本，提高存儲器電路的可利用率，有顯著的經(jīng)濟效益和社會效益。

　�。薄y試系統(tǒng)的基本原理

　　根據(jù)大容量存儲器電路的技術(shù)特點，不論ｅｅｐｒｏｍ、ｄｒａｍ、ｓｄｒａｍ、ｆｌａｓｒａｍ等，都有快速塊（ｂａｎｋ）、頁（ｐａｇｅ）、單個單元和連續(xù)多個單元這４種不同的讀和寫方式。本系統(tǒng)充分利用不同的讀和寫方式進行測試，首先以頁面方式測試存儲單元讀和寫的正確性，再以塊方式測試連續(xù)寫入固定數(shù)據(jù)的準確性，然后連續(xù)多個單元方式寫入變化數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性，最后測試在單個單元寫連續(xù)循環(huán)變化下數(shù)據(jù)的可靠性，按這樣順序運行４種不同的測試模塊，能非常準確地對存儲器電路的各種狀態(tài)進行分析測試，對大容量存儲器電路ｓｄｒａｍ和ｆｌａｓｈ　ｒａｍ的測試項目以及存儲單元的可測試度為１００％，系統(tǒng)定時精度±５００�。穑�，完全滿足ｓｄｒａｍ和ｆｌａｓｈ的產(chǎn)品指標要求。本項目的技術(shù)攻關(guān)難題在于大容量存儲器集成電路測試方法的創(chuàng)新和相應(yīng)測試設(shè)備的研制，它具有５項關(guān)鍵技術(shù)特點。

　�。保薄〔捎檬噶考夹g(shù)“ｖ２ｍｔｍ”，測試大容量存儲器

　　由于存儲器電路容量的不斷增大，測試仿真能力的增強使測試矢量的數(shù)量大大增加，用傳統(tǒng)的中小測試設(shè)備是無法做到的，即使一般大型的測試設(shè)備，也只尋求復(fù)雜的頁面式方案進行線性測試，這是造成測試時間隨著容量的增大而加長、成本增高的主要原因。采用虛擬矢量存儲器測試技術(shù)可以提供高達４０９６個測試矢量，以滿足容量１００兆以上，數(shù)據(jù)速率亞納秒的大容量存儲器電路的測試要求。整個測試過程基于矢量技術(shù)，實現(xiàn)同時多點多電路測試，使時間和成本基本上保持不變。

　　如為１２８兆容量存儲器電路，頁面容量為３２ｋ，則該電路具有２０４８個頁面。測試設(shè)備將提供２０４８個測試矢量，實現(xiàn)同時對２０４８點的測試，使測試時間比線性測試大大縮短。

　�。保病〔捎米冎窉呙柚刈x技術(shù)

　　掃描測試技術(shù)，主要針對存儲器電路對電平比較敏感的問題而設(shè)計。掃描途徑：邊界存取掃描、頁面存取掃描、單元存取掃描，充分利用存儲器電路行列復(fù)用的結(jié)構(gòu)特點，使存儲器任何管腳都可作為掃描管腳而得以測性，提高了可測性和測試準確性。

　　存儲器電路對電平比較敏感，會給出錯誤測試結(jié)果。假設(shè)ａ１內(nèi)部開路，讀寫時ａ１將感應(yīng)為高電平或低電平之一。如感應(yīng)為低電平即ａ１＝０，試圖對１０的單元任何讀寫，由于ａ１內(nèi)部開路感應(yīng)為ａ１＝ｏ，實際只是對ｏｏ的單元讀寫，表面上對１０單元讀寫測試結(jié)果正確，實際只是ｏｏ單元讀寫測試結(jié)果正確，因而給出錯誤結(jié)果�！⊥ㄟ^變址掃描重讀技術(shù)即可解決此問題。為了提高測試速度，在邊界區(qū)域選�。玻担叮饣蚋笕萘�。假設(shè)對應(yīng)８位地址，先對００００００００單元到１１１１１１１１單元寫入不同的數(shù)據(jù)，如分別寫入００ｈ，０１ｈ，０２ｈ…２５５。讀出時ａｏ，ａ２，ａ３，ａ４，ａ５，ａ６，ａ７固定為０，改變ａ１地址：

　　如地址均可靠，００００００００單元將寫入００ｈ，００００００１０單元將寫入０２ｈ，００００００００單元讀出時ｄａｔａ＝００ｈ；ａ１變址為１，００００００１０單元讀出時ｄａｔａ＝０２ｈ

　　如ａ１內(nèi)部開路感應(yīng)為低電平即ａ１＝ｏ，００ｈ寫入００００００００單元，寫００００００１０單元時由于ａ１＝ｏ，０２ｈ將寫入００００００００單元覆蓋００ｈ。００００００００單元讀出時ｄａｔａ＝０２ｈ，ａ１變址為１，００００００１０單元讀出時ｄａｔａ＝０２ｈ，數(shù)據(jù)相同，即可判定變址管腳ａ１錯誤。逐一變址每一地址，由讀出時數(shù)據(jù)是否相同，來判定所有變址管腳的可測性和測試準確性。

　　１．３　實時數(shù)據(jù)分析技術(shù)

　　系統(tǒng)主機通過邏輯分析功能，能迅速將被測器件的錯誤分離出來并顯示有關(guān)數(shù)據(jù)，也能在某個指定矢量上，在故障時停下來或保存起來，做邏輯統(tǒng)計分