半導(dǎo)體VCSEL選擇氧化型
發(fā)布時(shí)間:2008/12/5 0:00:00 訪問次數(shù):553
選擇氧化技術(shù)最初是應(yīng)用于邊發(fā)射激光器領(lǐng)域中,后來才被引入到vcsel的制作中,如圖1所示。其原理是將高a1組分的a1,ga; ̄,as在350~500℃下與水汽反應(yīng)生成化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定、絕緣性能良好且折射率低的氧化層。由于這種結(jié)構(gòu)對(duì)光子和電子都能進(jìn)行有效的橫向限制,因此得到了廣泛的關(guān)注。
圖1 半導(dǎo)體vcsel選擇氧化型
構(gòu)造選擇氧化型vcsel,要預(yù)先設(shè)計(jì)好氧化后各層的組成及分布情況,以此來決定氧化的速率,而且希望在鄰近諧振腔的algaas層上能夠得到大的氧化范圍,即小的氧化孔徑,如圖2所示。
圖2 選擇氧化型vcsel剖面圖
通過在vcsel中進(jìn)行a1組分的選擇氧化,構(gòu)成一個(gè)或者多個(gè)掩埋氧化層,利用氧化層良好的絕緣性,以及低的折射率特性,有效地約束了光子和電子的橫向擴(kuò)散范圍。
在mocvd的選擇氧化型vcsel制作流程的第一步是制作電極,然后用硅的氮化物掩模將電極覆蓋住進(jìn)行下一步的刻蝕。通常采用反應(yīng)離子束刻蝕法(rie),將vcsel刻蝕成一個(gè)臺(tái)面結(jié)構(gòu),露出氧化層。氧化層的面積由該層的組分結(jié)構(gòu)及氧化的時(shí)間所決定。例如,在440℃下,a10.98ga0.02as氧化速率在1μm/min左右。氧化完成后要將氮化物掩膜除去,以便進(jìn)行激光的性能測試。
歡迎轉(zhuǎn)載,信息來自維庫電子市場網(wǎng)(www.dzsc.com)
選擇氧化技術(shù)最初是應(yīng)用于邊發(fā)射激光器領(lǐng)域中,后來才被引入到vcsel的制作中,如圖1所示。其原理是將高a1組分的a1,ga; ̄,as在350~500℃下與水汽反應(yīng)生成化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定、絕緣性能良好且折射率低的氧化層。由于這種結(jié)構(gòu)對(duì)光子和電子都能進(jìn)行有效的橫向限制,因此得到了廣泛的關(guān)注。
圖1 半導(dǎo)體vcsel選擇氧化型
構(gòu)造選擇氧化型vcsel,要預(yù)先設(shè)計(jì)好氧化后各層的組成及分布情況,以此來決定氧化的速率,而且希望在鄰近諧振腔的algaas層上能夠得到大的氧化范圍,即小的氧化孔徑,如圖2所示。
圖2 選擇氧化型vcsel剖面圖
通過在vcsel中進(jìn)行a1組分的選擇氧化,構(gòu)成一個(gè)或者多個(gè)掩埋氧化層,利用氧化層良好的絕緣性,以及低的折射率特性,有效地約束了光子和電子的橫向擴(kuò)散范圍。
在mocvd的選擇氧化型vcsel制作流程的第一步是制作電極,然后用硅的氮化物掩模將電極覆蓋住進(jìn)行下一步的刻蝕。通常采用反應(yīng)離子束刻蝕法(rie),將vcsel刻蝕成一個(gè)臺(tái)面結(jié)構(gòu),露出氧化層。氧化層的面積由該層的組分結(jié)構(gòu)及氧化的時(shí)間所決定。例如,在440℃下,a10.98ga0.02as氧化速率在1μm/min左右。氧化完成后要將氮化物掩膜除去,以便進(jìn)行激光的性能測試。
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