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采用微流體背部冷卻技術(shù)實(shí)現(xiàn)芯片散熱(圖)

發(fā)布時(shí)間:2007/8/20 0:00:00 訪問次數(shù):1100


作者:Peter Singer

  事實(shí)上,如果使用過筆記本電腦的人都知道芯片能夠產(chǎn)生驚人的熱量。半導(dǎo)體行業(yè)主要的挑戰(zhàn)之一是如何對(duì)芯片、電路板和系統(tǒng)進(jìn)行散熱。

  今天,微處理器主要是采用倒裝芯片法封裝的,其散熱的主要模式是通過一個(gè)熱沉/散熱器從硅的背面進(jìn)行。利用導(dǎo)熱凝膠或環(huán)氧樹脂使散熱器與芯片的背部粘合成一個(gè)整體。

  然而,根據(jù)國(guó)際半導(dǎo)體技術(shù)發(fā)展藍(lán)圖(ITRS)的估計(jì),到2018年,高性能的芯片能夠產(chǎn)生100 W/cm2的功率密度。利用傳統(tǒng)的IC封裝技術(shù)沒有可制造的解決辦法排除如此高的熱通量。

  最近在Burlingame舉行的國(guó)際互連技術(shù)會(huì)議(IITC)上提出了一個(gè)令人關(guān)注的新選擇,即在晶圓上通過向微流通道及熱管輸送冷卻劑的方法散熱,并把這一結(jié)構(gòu)看作晶圓級(jí)封裝互連的一部分。這種技術(shù)同CMOS和倒裝芯片技術(shù)是兼容的,并且小型簡(jiǎn)單。

  這種工藝是在對(duì)晶圓上芯片的互連系統(tǒng)進(jìn)行后道加工(BEOL)之后,在將晶圓切割成單個(gè)芯片之前進(jìn)行的。在晶圓背部蝕刻深溝槽并填充犧牲聚合物,然后覆蓋上一種多孔材料(如圖所示)。

  當(dāng)晶圓被加熱時(shí),犧牲聚合物分解并形成封閉的微通道。第二層涂層用于增強(qiáng)機(jī)械強(qiáng)度和密封性。這個(gè)涂層可以是一個(gè)旋涂聚合物層,一種高質(zhì)量的SiO2薄膜或是一種電鍍金屬片。然后用一種標(biāo)準(zhǔn)的C4工藝在晶圓上形成焊接凸點(diǎn)。

  芯片通孔和聚合物“管道”用作引入和引出,在晶圓正面由光可成像聚合物的厚層形成。聚合物通道應(yīng)與引入/引出孔對(duì)準(zhǔn),然后管道內(nèi)部的鈍化層被刻蝕從而使流體循環(huán)。

  清潔和干燥之后,準(zhǔn)備切割晶圓。將最終的倒裝芯片安裝在一個(gè)液體冷卻的PWB襯底上,一起裝入微流通道并通過集成或外用泵對(duì)流體循環(huán)提供動(dòng)力。采用傳統(tǒng)的底部填充法實(shí)現(xiàn)密封結(jié)構(gòu)。

  研究組研究了兩種不同的帶有多路引入/引出結(jié)構(gòu)的通道陣列設(shè)計(jì),從而通過冷卻系統(tǒng)測(cè)出壓降并評(píng)估散熱能力。第一個(gè)設(shè)計(jì)有51個(gè)并聯(lián)通道并且每3個(gè)通道共用一組引入/引出孔。在第二個(gè)設(shè)計(jì)里,通道是一種蛇形彎曲的形狀,從而獲得更均勻的溫度梯度。

  由于兩種設(shè)計(jì)的整體熱交換區(qū)域是一樣的,所以對(duì)于某種冷卻液體的整體流速來說,它們的散熱能力是相同的。研究人員們說,采用去離子水可以散除100 W/cm2熱通量,引入和引出之間的溫度差為60℃時(shí),要求最低的整體流速為0.4 cc/sec。研究人員們得出的結(jié)論是采用壓降小于2個(gè)大氣壓,將有可能排除100 W/cm2的熱通量!


作者:Peter Singer

  事實(shí)上,如果使用過筆記本電腦的人都知道芯片能夠產(chǎn)生驚人的熱量。半導(dǎo)體行業(yè)主要的挑戰(zhàn)之一是如何對(duì)芯片、電路板和系統(tǒng)進(jìn)行散熱。

  今天,微處理器主要是采用倒裝芯片法封裝的,其散熱的主要模式是通過一個(gè)熱沉/散熱器從硅的背面進(jìn)行。利用導(dǎo)熱凝膠或環(huán)氧樹脂使散熱器與芯片的背部粘合成一個(gè)整體。

  然而,根據(jù)國(guó)際半導(dǎo)體技術(shù)發(fā)展藍(lán)圖(ITRS)的估計(jì),到2018年,高性能的芯片能夠產(chǎn)生100 W/cm2的功率密度。利用傳統(tǒng)的IC封裝技術(shù)沒有可制造的解決辦法排除如此高的熱通量。

  最近在Burlingame舉行的國(guó)際互連技術(shù)會(huì)議(IITC)上提出了一個(gè)令人關(guān)注的新選擇,即在晶圓上通過向微流通道及熱管輸送冷卻劑的方法散熱,并把這一結(jié)構(gòu)看作晶圓級(jí)封裝互連的一部分。這種技術(shù)同CMOS和倒裝芯片技術(shù)是兼容的,并且小型簡(jiǎn)單。

  這種工藝是在對(duì)晶圓上芯片的互連系統(tǒng)進(jìn)行后道加工(BEOL)之后,在將晶圓切割成單個(gè)芯片之前進(jìn)行的。在晶圓背部蝕刻深溝槽并填充犧牲聚合物,然后覆蓋上一種多孔材料(如圖所示)。

  當(dāng)晶圓被加熱時(shí),犧牲聚合物分解并形成封閉的微通道。第二層涂層用于增強(qiáng)機(jī)械強(qiáng)度和密封性。這個(gè)涂層可以是一個(gè)旋涂聚合物層,一種高質(zhì)量的SiO2薄膜或是一種電鍍金屬片。然后用一種標(biāo)準(zhǔn)的C4工藝在晶圓上形成焊接凸點(diǎn)。

  芯片通孔和聚合物“管道”用作引入和引出,在晶圓正面由光可成像聚合物的厚層形成。聚合物通道應(yīng)與引入/引出孔對(duì)準(zhǔn),然后管道內(nèi)部的鈍化層被刻蝕從而使流體循環(huán)。

  清潔和干燥之后,準(zhǔn)備切割晶圓。將最終的倒裝芯片安裝在一個(gè)液體冷卻的PWB襯底上,一起裝入微流通道并通過集成或外用泵對(duì)流體循環(huán)提供動(dòng)力。采用傳統(tǒng)的底部填充法實(shí)現(xiàn)密封結(jié)構(gòu)。

  研究組研究了兩種不同的帶有多路引入/引出結(jié)構(gòu)的通道陣列設(shè)計(jì),從而通過冷卻系統(tǒng)測(cè)出壓降并評(píng)估散熱能力。第一個(gè)設(shè)計(jì)有51個(gè)并聯(lián)通道并且每3個(gè)通道共用一組引入/引出孔。在第二個(gè)設(shè)計(jì)里,通道是一種蛇形彎曲的形狀,從而獲得更均勻的溫度梯度。

  由于兩種設(shè)計(jì)的整體熱交換區(qū)域是一樣的,所以對(duì)于某種冷卻液體的整體流速來說,它們的散熱能力是相同的。研究人員們說,采用去離子水可以散除100 W/cm2熱通量,引入和引出之間的溫度差為60℃時(shí),要求最低的整體流速為0.4 cc/sec。研究人員們得出的結(jié)論是采用壓降小于2個(gè)大氣壓,將有可能排除100 W/cm2的熱通量。 

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