SN54ABT18640/SN74ABT18640掃描測試裝置與18位反轉(zhuǎn)總線收發(fā)器電路的基本特性：

1) 德州儀器生產(chǎn)；
2) 符合IEEE標準；
3) 1149.1-1990 (JTAG)標準的測試接入端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)；
4) 輸出偽隨機模式；
5) 采樣輸入/切換輸出；
6) 輸出二進制計數(shù)；
7) 識別裝置；
8) 先進技術(shù)EPIC-IIBE BiCMOS設計極大地降低了功耗。

SN54ABT18652/SN74ABT18652掃描測試設備18位總線收發(fā)器和寄存器電路的基本特性：

1) 1149.1-1990 (JTAG)標準的測試接入端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)；
2) 包括D觸發(fā)器和提供多路復用的控制電路；
3) 存儲和實時數(shù)據(jù)的傳輸；
4) 為了增加靈活性，每個I/O接口有2個邊界掃描單元；
5) 先進技術(shù)EPIC-IIBE BiCMOS設計大大降低了功耗。