典型集成運放的測試與選用原則
發(fā)布時間:2011/8/17 9:29:31 訪問次數(shù):2032
1.典型集成運放的測試
集成運放性能參數(shù)測試應(yīng)采用相應(yīng)的測試電路進行，大規(guī)模生產(chǎn)和對參數(shù)要求較高的場合，應(yīng)采用專用儀器進行測試，如IST750等。
現(xiàn)介紹用萬用表粗測LM324的方法。
LM324系列產(chǎn)品包括LM124、LM224、LM324，國產(chǎn)對應(yīng)型號為FX124、FX224、FX324。它們都是由4個獨立的低功耗、高效益、頻率內(nèi)補償式運算放大器組成。其引腳排列如圖1- 42所示。圖中VCC、GND分別為正電源端和地端。IN+為同相輸入端，IN-為反相輸入端，OUT為輸出端。用萬用表可檢測其好壞，選擇500型萬用表R×lk擋分別測量各引腳間的電阻值，典型數(shù)據(jù)如表1-14所列。
測試時應(yīng)注意以下幾點：
①應(yīng)分別檢查LM324的4個運算放大器，各對應(yīng)引腳的電阻值應(yīng)基本相等，否則參數(shù)的一致性差。
②若用不同型號頁用表的RXlk擋測量，電阻值會略有差異。但在上述測量中，只要有一次電阻為零，即說明內(nèi)部有短路故障；讀數(shù)為無窮大時，說明內(nèi)部有開路損壞。
2.集成運放的選用原則
集成運放種類繁多，在設(shè)計電路時應(yīng)結(jié)合電路要求及集成運放性能參數(shù)來選用。選型時除了滿足主要技術(shù)性能指標外，還應(yīng)考慮性能價格比，即經(jīng)濟性。一般指標性能高的運放，價格也相應(yīng)較高。無特殊要求場合，應(yīng)選用通用型、多運放型運放芯片。
1.典型集成運放的測試
集成運放性能參數(shù)測試應(yīng)采用相應(yīng)的測試電路進行，大規(guī)模生產(chǎn)和對參數(shù)要求較高的場合，應(yīng)采用專用儀器進行測試，如IST750等。
現(xiàn)介紹用萬用表粗測LM324的方法。
LM324系列產(chǎn)品包括LM124、LM224、LM324，國產(chǎn)對應(yīng)型號為FX124、FX224、FX324。它們都是由4個獨立的低功耗、高效益、頻率內(nèi)補償式運算放大器組成。其引腳排列如圖1- 42所示。圖中VCC、GND分別為正電源端和地端。IN+為同相輸入端，IN-為反相輸入端，OUT為輸出端。用萬用表可檢測其好壞，選擇500型萬用表R×lk擋分別測量各引腳間的電阻值，典型數(shù)據(jù)如表1-14所列。
測試時應(yīng)注意以下幾點：
①應(yīng)分別檢查LM324的4個運算放大器，各對應(yīng)引腳的電阻值應(yīng)基本相等，否則參數(shù)的一致性差。
②若用不同型號頁用表的RXlk擋測量，電阻值會略有差異。但在上述測量中，只要有一次電阻為零，即說明內(nèi)部有短路故障；讀數(shù)為無窮大時，說明內(nèi)部有開路損壞。
2.集成運放的選用原則
集成運放種類繁多，在設(shè)計電路時應(yīng)結(jié)合電路要求及集成運放性能參數(shù)來選用。選型時除了滿足主要技術(shù)性能指標外，還應(yīng)考慮性能價格比，即經(jīng)濟性。一般指標性能高的運放，價格也相應(yīng)較高。無特殊要求場合，應(yīng)選用通用型、多運放型運放芯片。
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