失效率(A)是描述電子元器件EP3C80F780I7N在規(guī)定條件下和規(guī)定時(shí)間內(nèi)發(fā)生失效的概率，是表征電子元器件可靠性水平的一種量化特征量。若有10 000個(gè)電阻器，經(jīng)過(guò)10 000h有1個(gè)失效，則它的失效率為10-8／h。
    1979年頒布的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1772-79《電子元件失效率試驗(yàn)方法》對(duì)確立可靠性定量指標(biāo)(ER)要求的元件（例如，電容器、電阻器以及繼電器等），規(guī)定了7個(gè)失效率等級(jí)。1996年發(fā)布的國(guó)家軍用標(biāo)準(zhǔn)GJB2649-96《軍用電子元件失效率抽樣方案和程序》，將7個(gè)失效率等級(jí)減少為5個(gè)。為比較，現(xiàn)將這兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的失效率等級(jí)的名稱、代號(hào)及最大失效率列于表1.6中。標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的失效率是產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的額定條件下的失效率。

    一般來(lái)說(shuō)，對(duì)于有失效率指標(biāo)要求的電子元件，用戶基本上是根據(jù)同類產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)上規(guī)定的額定條件，按照GB 1772-79成GJB 2649-96的試驗(yàn)方法對(duì)所研制的新產(chǎn)品進(jìn)行定級(jí)試驗(yàn)，以考核所研產(chǎn)品是否達(dá)到了所要求的可靠性指標(biāo)。
    電子元器件、材料的微量化學(xué)物理變化會(huì)引起產(chǎn)品特性參數(shù)的退化，當(dāng)其特性參數(shù)退化到某一極限值時(shí)，產(chǎn)品就發(fā)生失效，而退化所經(jīng)歷的時(shí)間就是產(chǎn)品的壽命。
    電子模塊、電子組件和小型電子儀器等的壽命通常是用壽命指標(biāo)（如MTBF，小時(shí)）來(lái)定量表征。
    有些電子元器件，如電子管通常以壽命指標(biāo)（小時(shí)）表征其可靠性，而繼電器還可以用吸放次數(shù)來(lái)反映其壽命。產(chǎn)品壽命與失效率之間存在一定的換算關(guān)系，壽命特征服從指數(shù)分布的產(chǎn)品，可按式(1.3)MTBF和失效率(A)互為倒數(shù)的關(guān)系進(jìn)行換算。電子模塊、組件等也可將壽命指標(biāo)MTBF換算為失效率等級(jí)來(lái)表示。