失效率試驗(yàn)
發(fā)布時(shí)間:2012/4/18 19:52:28 訪問次數(shù):867
對確立可靠性指標(biāo)的電子元件,為了驗(yàn)證產(chǎn)品SGM2007-1.8XN5/TR是否低于某規(guī)定的失效率等級須進(jìn)行失效率試驗(yàn),即在所要求的置信度下驗(yàn)證產(chǎn)品是否符合所要求的失效率等級。進(jìn)行失效率試驗(yàn)時(shí)應(yīng)規(guī)定如下項(xiàng)目:
·試驗(yàn)內(nèi)容與試驗(yàn)條件。
·測試項(xiàng)目、測試條件(包括測試環(huán)境)及測試周期。
·失效標(biāo)準(zhǔn)。
·置信度。
·試驗(yàn)時(shí)間及所需的樣品數(shù)。
·加速試驗(yàn)的加速條件與加速系數(shù)。
失效率試驗(yàn)所用試驗(yàn)樣品,必須從經(jīng)過產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范規(guī)定的篩選后的合格產(chǎn)品批中隨機(jī)抽取。失效率試驗(yàn)應(yīng)在產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范規(guī)定的額定條件或加速條件下進(jìn)行。對于失效率等級為六級和低于六級的試驗(yàn),額定條件下的元件小時(shí)數(shù)應(yīng)不少于總元件小時(shí)數(shù)的1/3;對于高于六級的試驗(yàn),額定條件下的元件小時(shí)數(shù)應(yīng)不少于總元件小時(shí)數(shù)的1/10。
實(shí)際上,在進(jìn)行各項(xiàng)可靠性評價(jià)試驗(yàn)中都要以監(jiān)視失效模式為主要內(nèi)容,找出結(jié)構(gòu)、材料、工藝方面的缺陷,針對薄弱環(huán)節(jié)采取措施達(dá)到提高產(chǎn)品可靠性的目的。
·試驗(yàn)內(nèi)容與試驗(yàn)條件。
·測試項(xiàng)目、測試條件(包括測試環(huán)境)及測試周期。
·失效標(biāo)準(zhǔn)。
·置信度。
·試驗(yàn)時(shí)間及所需的樣品數(shù)。
·加速試驗(yàn)的加速條件與加速系數(shù)。
失效率試驗(yàn)所用試驗(yàn)樣品,必須從經(jīng)過產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范規(guī)定的篩選后的合格產(chǎn)品批中隨機(jī)抽取。失效率試驗(yàn)應(yīng)在產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范規(guī)定的額定條件或加速條件下進(jìn)行。對于失效率等級為六級和低于六級的試驗(yàn),額定條件下的元件小時(shí)數(shù)應(yīng)不少于總元件小時(shí)數(shù)的1/3;對于高于六級的試驗(yàn),額定條件下的元件小時(shí)數(shù)應(yīng)不少于總元件小時(shí)數(shù)的1/10。
實(shí)際上,在進(jìn)行各項(xiàng)可靠性評價(jià)試驗(yàn)中都要以監(jiān)視失效模式為主要內(nèi)容,找出結(jié)構(gòu)、材料、工藝方面的缺陷,針對薄弱環(huán)節(jié)采取措施達(dá)到提高產(chǎn)品可靠性的目的。
對確立可靠性指標(biāo)的電子元件,為了驗(yàn)證產(chǎn)品SGM2007-1.8XN5/TR是否低于某規(guī)定的失效率等級須進(jìn)行失效率試驗(yàn),即在所要求的置信度下驗(yàn)證產(chǎn)品是否符合所要求的失效率等級。進(jìn)行失效率試驗(yàn)時(shí)應(yīng)規(guī)定如下項(xiàng)目:
·試驗(yàn)內(nèi)容與試驗(yàn)條件。
·測試項(xiàng)目、測試條件(包括測試環(huán)境)及測試周期。
·失效標(biāo)準(zhǔn)。
·置信度。
·試驗(yàn)時(shí)間及所需的樣品數(shù)。
·加速試驗(yàn)的加速條件與加速系數(shù)。
失效率試驗(yàn)所用試驗(yàn)樣品,必須從經(jīng)過產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范規(guī)定的篩選后的合格產(chǎn)品批中隨機(jī)抽取。失效率試驗(yàn)應(yīng)在產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范規(guī)定的額定條件或加速條件下進(jìn)行。對于失效率等級為六級和低于六級的試驗(yàn),額定條件下的元件小時(shí)數(shù)應(yīng)不少于總元件小時(shí)數(shù)的1/3;對于高于六級的試驗(yàn),額定條件下的元件小時(shí)數(shù)應(yīng)不少于總元件小時(shí)數(shù)的1/10。
實(shí)際上,在進(jìn)行各項(xiàng)可靠性評價(jià)試驗(yàn)中都要以監(jiān)視失效模式為主要內(nèi)容,找出結(jié)構(gòu)、材料、工藝方面的缺陷,針對薄弱環(huán)節(jié)采取措施達(dá)到提高產(chǎn)品可靠性的目的。
·試驗(yàn)內(nèi)容與試驗(yàn)條件。
·測試項(xiàng)目、測試條件(包括測試環(huán)境)及測試周期。
·失效標(biāo)準(zhǔn)。
·置信度。
·試驗(yàn)時(shí)間及所需的樣品數(shù)。
·加速試驗(yàn)的加速條件與加速系數(shù)。
失效率試驗(yàn)所用試驗(yàn)樣品,必須從經(jīng)過產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范規(guī)定的篩選后的合格產(chǎn)品批中隨機(jī)抽取。失效率試驗(yàn)應(yīng)在產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范規(guī)定的額定條件或加速條件下進(jìn)行。對于失效率等級為六級和低于六級的試驗(yàn),額定條件下的元件小時(shí)數(shù)應(yīng)不少于總元件小時(shí)數(shù)的1/3;對于高于六級的試驗(yàn),額定條件下的元件小時(shí)數(shù)應(yīng)不少于總元件小時(shí)數(shù)的1/10。
實(shí)際上,在進(jìn)行各項(xiàng)可靠性評價(jià)試驗(yàn)中都要以監(jiān)視失效模式為主要內(nèi)容,找出結(jié)構(gòu)、材料、工藝方面的缺陷,針對薄弱環(huán)節(jié)采取措施達(dá)到提高產(chǎn)品可靠性的目的。
熱門點(diǎn)擊
- 智能家居系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)流程
- USB接口設(shè)計(jì)
- 音頻編解碼模塊
- 靜電防護(hù)的主要措施
- IEEE 802.15.4標(biāo)準(zhǔn)
- 電容器的基本特性
- 無線通信芯片CC2420
- 磁性天線
- 基于無線傳感器網(wǎng)絡(luò)的多網(wǎng)絡(luò)融合系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
- 中央處理模塊
推薦技術(shù)資料
- 自制智能型ICL7135
- 表頭使ff11CL7135作為ADC,ICL7135是... [詳細(xì)]
- CV/CC InnoSwitch3-AQ 開
- URF1DxxM-60WR3系
- 1-6W URA24xxN-x
- 閉環(huán)磁通門信號調(diào)節(jié)芯片NSDRV401
- SK-RiSC-SOM-H27X-V1.1應(yīng)
- RISC技術(shù)8位微控制器參數(shù)設(shè)
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機(jī)遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計(jì)
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究