加速壽命試驗
發(fā)布時間:2012/4/18 19:50:06 訪問次數(shù):1871
進行加速壽命試驗的目的就SGM4054B-YN5/TR是用加強應力的方法，縮短試驗時間或減少試驗樣品，加速電子元器件的失效，在較短的時間內預測出在正常的（額定的或實際使用的）應力條件下的壽命特征。加速壽命試驗的分析方法主要是利用電子元器件失效數(shù)據(jù)，求出加速系數(shù)，推算不同應力水準下的減額或加速系數(shù)以及失效率數(shù)值。
加速壽命試驗可分為恒定應力加速壽命試驗、步進應力加速壽命試驗和序進應力加速壽命試驗。這三種加速壽命試驗方法都有一個共同點，就是要事先知道電子元器件的失效機理在什么應力范圍內保持不變，否則，所獲得的試驗結果無效。
恒定應力加速壽命試驗是樣品在試驗期間所承受的應力保持不變的情況下觀察其失效時間，這種試驗方法是最成熟的，備也不昂貴，試驗條件易于控制，試驗結果的誤差也較小，因此，得到廣泛應用。
步進應力加速壽命試驗是樣品在試驗期間所承受的應力按一定時間間隔階梯地增加，直到樣品性能產生足夠的退化為止，是以時間不變，用累積的應力方式來觀察樣品的失效。這種試驗方法的優(yōu)點是能夠在較短的時間內觀察到電子元器件的失效，便于確定產品承受安全應力的極限水平，便于掌握樣品的失效模式和失效機理隨應力的變化。當這種試驗方法用于檢查不同批次之間或不同廠家之間產品的質量差異時，便于檢驗工藝變化對產品質量的影響，其技術關鍵是要合理確定兩組應力之間的試驗時間間隔。
序進應力加速壽命試驗是樣品在試驗期間所承受的應力按時間等速增加，直到樣品產生足夠的退化為止。為獲得電子元器件退化程度與應力、時間的依賴關系，需要在幾個不同的應力、時間變化率上重復進行幾次試驗，這些試驗的結束條件與恒定應力加速試驗或步進應力加速壽命試驗相同。這種試驗裝置價格昂貴，故較少采用。
目前國際上采用的加速壽命試驗新方法主要有高加速壽命試驗( HALT)方法、高加速應力篩選( HASS)方法、高加速應力試驗(HAST)方法。HALT是一種增強型分步應力壽命試驗，可快速評價電子元器件可靠性壽命水平，一般用來確認設計的薄弱環(huán)節(jié)和制造過程中存在的問題，以及用來增加設計強度的裕量。HASS是一個加速環(huán)境應力篩選方法，它提供了產品遇到的最嚴酷的環(huán)境，它是為達到“技術的極限”而設計的，應力的微小增加就會導致失效數(shù)的大量增加。HASS帶和HALT互相聯(lián)合使用，目的是改進產品設計，將制造偏差和環(huán)境效應對產品性能和可靠性的影響減至最小。HAST方法是為代替老的溫度／濕度試驗而專為塑封固態(tài)器件而開發(fā)的一種新試驗方法，在國外企業(yè)普遍使用。
HAST也是NASA塑封微電路鑒定試驗中常用的試驗方法。
加速壽命試驗可分為恒定應力加速壽命試驗、步進應力加速壽命試驗和序進應力加速壽命試驗。這三種加速壽命試驗方法都有一個共同點，就是要事先知道電子元器件的失效機理在什么應力范圍內保持不變，否則，所獲得的試驗結果無效。
恒定應力加速壽命試驗是樣品在試驗期間所承受的應力保持不變的情況下觀察其失效時間，這種試驗方法是最成熟的，備也不昂貴，試驗條件易于控制，試驗結果的誤差也較小，因此，得到廣泛應用。
步進應力加速壽命試驗是樣品在試驗期間所承受的應力按一定時間間隔階梯地增加，直到樣品性能產生足夠的退化為止，是以時間不變，用累積的應力方式來觀察樣品的失效。這種試驗方法的優(yōu)點是能夠在較短的時間內觀察到電子元器件的失效，便于確定產品承受安全應力的極限水平，便于掌握樣品的失效模式和失效機理隨應力的變化。當這種試驗方法用于檢查不同批次之間或不同廠家之間產品的質量差異時，便于檢驗工藝變化對產品質量的影響，其技術關鍵是要合理確定兩組應力之間的試驗時間間隔。
序進應力加速壽命試驗是樣品在試驗期間所承受的應力按時間等速增加，直到樣品產生足夠的退化為止。為獲得電子元器件退化程度與應力、時間的依賴關系，需要在幾個不同的應力、時間變化率上重復進行幾次試驗，這些試驗的結束條件與恒定應力加速試驗或步進應力加速壽命試驗相同。這種試驗裝置價格昂貴，故較少采用。
目前國際上采用的加速壽命試驗新方法主要有高加速壽命試驗( HALT)方法、高加速應力篩選( HASS)方法、高加速應力試驗(HAST)方法。HALT是一種增強型分步應力壽命試驗，可快速評價電子元器件可靠性壽命水平，一般用來確認設計的薄弱環(huán)節(jié)和制造過程中存在的問題，以及用來增加設計強度的裕量。HASS是一個加速環(huán)境應力篩選方法，它提供了產品遇到的最嚴酷的環(huán)境，它是為達到“技術的極限”而設計的，應力的微小增加就會導致失效數(shù)的大量增加。HASS帶和HALT互相聯(lián)合使用，目的是改進產品設計，將制造偏差和環(huán)境效應對產品性能和可靠性的影響減至最小。HAST方法是為代替老的溫度／濕度試驗而專為塑封固態(tài)器件而開發(fā)的一種新試驗方法，在國外企業(yè)普遍使用。
HAST也是NASA塑封微電路鑒定試驗中常用的試驗方法。
進行加速壽命試驗的目的就SGM4054B-YN5/TR是用加強應力的方法，縮短試驗時間或減少試驗樣品，加速電子元器件的失效，在較短的時間內預測出在正常的（額定的或實際使用的）應力條件下的壽命特征。加速壽命試驗的分析方法主要是利用電子元器件失效數(shù)據(jù)，求出加速系數(shù)，推算不同應力水準下的減額或加速系數(shù)以及失效率數(shù)值。
加速壽命試驗可分為恒定應力加速壽命試驗、步進應力加速壽命試驗和序進應力加速壽命試驗。這三種加速壽命試驗方法都有一個共同點，就是要事先知道電子元器件的失效機理在什么應力范圍內保持不變，否則，所獲得的試驗結果無效。
恒定應力加速壽命試驗是樣品在試驗期間所承受的應力保持不變的情況下觀察其失效時間，這種試驗方法是最成熟的，備也不昂貴，試驗條件易于控制，試驗結果的誤差也較小，因此，得到廣泛應用。
步進應力加速壽命試驗是樣品在試驗期間所承受的應力按一定時間間隔階梯地增加，直到樣品性能產生足夠的退化為止，是以時間不變，用累積的應力方式來觀察樣品的失效。這種試驗方法的優(yōu)點是能夠在較短的時間內觀察到電子元器件的失效，便于確定產品承受安全應力的極限水平，便于掌握樣品的失效模式和失效機理隨應力的變化。當這種試驗方法用于檢查不同批次之間或不同廠家之間產品的質量差異時，便于檢驗工藝變化對產品質量的影響，其技術關鍵是要合理確定兩組應力之間的試驗時間間隔。
序進應力加速壽命試驗是樣品在試驗期間所承受的應力按時間等速增加，直到樣品產生足夠的退化為止。為獲得電子元器件退化程度與應力、時間的依賴關系，需要在幾個不同的應力、時間變化率上重復進行幾次試驗，這些試驗的結束條件與恒定應力加速試驗或步進應力加速壽命試驗相同。這種試驗裝置價格昂貴，故較少采用。
目前國際上采用的加速壽命試驗新方法主要有高加速壽命試驗( HALT)方法、高加速應力篩選( HASS)方法、高加速應力試驗(HAST)方法。HALT是一種增強型分步應力壽命試驗，可快速評價電子元器件可靠性壽命水平，一般用來確認設計的薄弱環(huán)節(jié)和制造過程中存在的問題，以及用來增加設計強度的裕量。HASS是一個加速環(huán)境應力篩選方法，它提供了產品遇到的最嚴酷的環(huán)境，它是為達到“技術的極限”而設計的，應力的微小增加就會導致失效數(shù)的大量增加。HASS帶和HALT互相聯(lián)合使用，目的是改進產品設計，將制造偏差和環(huán)境效應對產品性能和可靠性的影響減至最小。HAST方法是為代替老的溫度／濕度試驗而專為塑封固態(tài)器件而開發(fā)的一種新試驗方法，在國外企業(yè)普遍使用。
HAST也是NASA塑封微電路鑒定試驗中常用的試驗方法。
加速壽命試驗可分為恒定應力加速壽命試驗、步進應力加速壽命試驗和序進應力加速壽命試驗。這三種加速壽命試驗方法都有一個共同點，就是要事先知道電子元器件的失效機理在什么應力范圍內保持不變，否則，所獲得的試驗結果無效。
恒定應力加速壽命試驗是樣品在試驗期間所承受的應力保持不變的情況下觀察其失效時間，這種試驗方法是最成熟的，備也不昂貴，試驗條件易于控制，試驗結果的誤差也較小，因此，得到廣泛應用。
步進應力加速壽命試驗是樣品在試驗期間所承受的應力按一定時間間隔階梯地增加，直到樣品性能產生足夠的退化為止，是以時間不變，用累積的應力方式來觀察樣品的失效。這種試驗方法的優(yōu)點是能夠在較短的時間內觀察到電子元器件的失效，便于確定產品承受安全應力的極限水平，便于掌握樣品的失效模式和失效機理隨應力的變化。當這種試驗方法用于檢查不同批次之間或不同廠家之間產品的質量差異時，便于檢驗工藝變化對產品質量的影響，其技術關鍵是要合理確定兩組應力之間的試驗時間間隔。
序進應力加速壽命試驗是樣品在試驗期間所承受的應力按時間等速增加，直到樣品產生足夠的退化為止。為獲得電子元器件退化程度與應力、時間的依賴關系，需要在幾個不同的應力、時間變化率上重復進行幾次試驗，這些試驗的結束條件與恒定應力加速試驗或步進應力加速壽命試驗相同。這種試驗裝置價格昂貴，故較少采用。
目前國際上采用的加速壽命試驗新方法主要有高加速壽命試驗( HALT)方法、高加速應力篩選( HASS)方法、高加速應力試驗(HAST)方法。HALT是一種增強型分步應力壽命試驗，可快速評價電子元器件可靠性壽命水平，一般用來確認設計的薄弱環(huán)節(jié)和制造過程中存在的問題，以及用來增加設計強度的裕量。HASS是一個加速環(huán)境應力篩選方法，它提供了產品遇到的最嚴酷的環(huán)境，它是為達到“技術的極限”而設計的，應力的微小增加就會導致失效數(shù)的大量增加。HASS帶和HALT互相聯(lián)合使用，目的是改進產品設計，將制造偏差和環(huán)境效應對產品性能和可靠性的影響減至最小。HAST方法是為代替老的溫度／濕度試驗而專為塑封固態(tài)器件而開發(fā)的一種新試驗方法，在國外企業(yè)普遍使用。
HAST也是NASA塑封微電路鑒定試驗中常用的試驗方法。
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