內(nèi)部缺陷分析

發(fā)布時間:2012/4/19 19:26:38 訪問次數(shù):599

    內(nèi)部缺陷（工藝缺陷）分析的目的6100是檢查和確認(rèn)樣品內(nèi)部的材料性質(zhì)、設(shè)計、結(jié)構(gòu)和工藝制造上出現(xiàn)錯誤的跡象以及與失效有關(guān)的異�，F(xiàn)象和缺陷。內(nèi)部缺陷檢查的設(shè)備包括立體顯微鏡，金相顯微鏡、掃描電子顯微鏡、附帶的攝影裝置等。在檢查過程中，應(yīng)從樣品的結(jié)構(gòu)、材料、工藝諸方面對其質(zhì)量作出評價，同時還要檢查異物、沾污、電和熱的損傷、裂紋（如龜裂或斷裂）以及鍍層的質(zhì)量。內(nèi)部缺陷（工藝缺陷）分析主要包括以下幾方面：
    ①工藝質(zhì)量的判斷和缺陷的分析。
    ②鍵合、組裝、結(jié)構(gòu)缺陷的分析。
    ③金屬化、膜塊元件缺陷的分析。
    ④多余物、外來沾污物的分析。
    ⑤開封后的電特性分析。
    盡管有些內(nèi)部缺陷（工藝缺陷）是由于工藝過程不嚴(yán)造成的，但作為設(shè)計者就要根據(jù)出現(xiàn)缺陷的情況提出工藝控制要求，在設(shè)計文件、工藝文件中加以規(guī)定。

    內(nèi)部缺陷（工藝缺陷）分析的目的6100是檢查和確認(rèn)樣品內(nèi)部的材料性質(zhì)、設(shè)計、結(jié)構(gòu)和工藝制造上出現(xiàn)錯誤的跡象以及與失效有關(guān)的異常現(xiàn)象和缺陷。內(nèi)部缺陷檢查的設(shè)備包括立體顯微鏡，金相顯微鏡、掃描電子顯微鏡、附帶的攝影裝置等。在檢查過程中，應(yīng)從樣品的結(jié)構(gòu)、材料、工藝諸方面對其質(zhì)量作出評價，同時還要檢查異物、沾污、電和熱的損傷、裂紋（如龜裂或斷裂）以及鍍層的質(zhì)量。內(nèi)部缺陷（工藝缺陷）分析主要包括以下幾方面：
    ①工藝質(zhì)量的判斷和缺陷的分析。
    ②鍵合、組裝、結(jié)構(gòu)缺陷的分析。
    ③金屬化、膜塊元件缺陷的分析。
    ④多余物、外來沾污物的分析。
    ⑤開封后的電特性分析。
    盡管有些內(nèi)部缺陷（工藝缺陷）是由于工藝過程不嚴(yán)造成的，但作為設(shè)計者就要根據(jù)出現(xiàn)缺陷的情況提出工藝控制要求，在設(shè)計文件、工藝文件中加以規(guī)定。

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