輻射主要指一些高速粒子（中子流、X射線、7射線等）的影響，易造成FDB047N10電路內(nèi)部的化學(xué)反應(yīng)、蛻變和電離，使電路功能下降或失效�；旌霞呻娐返目馆椛湓O(shè)計(jì)措施主要為：
    ①首先選用采取了防護(hù)措施而抗輻射性能好的電子元器件（電阻器、電容器、晶體管、集成電路等）進(jìn)行混合集成電路組裝。

    ②在電路設(shè)計(jì)上可采取適當(dāng)?shù)目馆椛浯胧�，如采用限流電阻防止過(guò)大的瞬時(shí)光電流或用反向二極管產(chǎn)生電流來(lái)抵消其影響，采用適當(dāng)?shù)耐笋睢⑴月窞V波和反饋有助于消除y射線、瞬時(shí)中子流輻射、電磁脈沖等造成的不良影響等。
    ③在封裝外殼上涂覆抗輻射性能好的防護(hù)材料。
    高可靠混合集成電路應(yīng)達(dá)到的耐環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰σ?BR>    根據(jù)GJB 2438-2002《混合集成電路通用規(guī)范》規(guī)定和GJB548A-96《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》的要求，宇航級(jí)和高可靠級(jí)產(chǎn)品應(yīng)達(dá)到的主要耐環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰θ绫?.4所示。

    表3.4中oci為質(zhì)量一致性檢驗(yàn)的縮寫(xiě)，QML為合格制造商鑒定（工藝和材料鑒定）的縮寫(xiě)。因此，在設(shè)計(jì)用于宇航環(huán)境或要求高可靠級(jí)（H級(jí)）的混合集成電路時(shí)，應(yīng)充分考慮各種環(huán)境因素對(duì)混合集成電路可靠性的影響，在設(shè)計(jì)上采取各種有效措施，提高產(chǎn)品的抗環(huán)境能力，才能達(dá)到《混合集成電路通用規(guī)苑》的規(guī)定要求。