X射線檢查包含幾方面檢查內(nèi)容
發(fā)布時間:2012/4/25 19:37:36 訪問次數(shù):1286
X射線檢查主要用于檢查電路內(nèi)部CY7C60455-3X14C結(jié)構(gòu)缺陷和多余物，對于有高可靠要求的產(chǎn)品通常包含以下幾方面檢查內(nèi)容：
①大于0. 025mm的游離或附著的任何顆粒，或雖然尺寸較小但足以跨接器件中互相不連接的導(dǎo)電部分的任何外來顆粒。
②內(nèi)引線尾部的延伸，在半導(dǎo)體芯片焊接區(qū)上超過引線直徑的兩倍，或在封裝外引線鍵合區(qū)上超過內(nèi)引線直徑的4倍。
③在封帽內(nèi)部外引線端頭上的主要尺寸大于0. 08mm或從形狀來看會斷開的任何毛刺。
④多余的半導(dǎo)體芯片鍵合材料的累積。
⑤底座外引線鍵合區(qū)或外殼內(nèi)任一處的金層脫皮。
⑥外殼內(nèi)任一處額外的球狀鍵合，在鍵合時附著的鍵合剩余物除外。
進(jìn)行X射線檢查時應(yīng)注意，在PIND振動或沖擊之后對編有序號的器件進(jìn)行的第二次X射線檢查，每一個器件應(yīng)和它的前一次X射線記錄進(jìn)行比較；任何可疑顆粒已經(jīng)移動或從原來位置上消失，則應(yīng)拒收器件；如果顆粒沒有移動的跡象，器件可接收。
顆粒碰撞噪聲檢測(簡稱PIND)是目前采用最多的一種非破壞性的多余物篩選方法。對于高可靠要求的產(chǎn)品的顆粒碰撞噪聲檢測主要是通過侍感器捕獲內(nèi)部多余物的碰撞噪聲信號，辨別多余物，進(jìn)而剔除有質(zhì)量隱患的產(chǎn)品。
目前各廠家普遍采用美國PTI公司的4501型顆粒碰撞噪聲檢測儀進(jìn)行檢測，該檢測儀主要由電磁振動臺、檢測示波器、可編程控制器三部分組成，在電磁振動臺上完成振動和沖擊過程，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)、器件設(shè)定不同的沖擊加速度、脈沖寬度。檢測過程中，電路內(nèi)部的多余物和可動部分會隨著振動和沖擊過程產(chǎn)生不同的噪聲信號，通過傳感器捕獲后在示波器上顯示出不同的波形。顯示波形分為移動波形和固定波形（也稱為機(jī)械噪聲）。
移動波形在示波器顯示屏上表現(xiàn)為單個脈沖不斷移動的形式，振幅也不同，這是多余物碰撞過程所產(chǎn)生的典型信號。外界干擾也可能產(chǎn)生單脈沖移動信號，如飛機(jī)飛過、汽車經(jīng)過等。
固定波形（機(jī)械噪聲）在示波器顯示屏上表現(xiàn)為在某個位置基本不移動，且振幅基本不變，通常這是電路內(nèi)部可動部分產(chǎn)生的典型信號，也可能是儀器本身某處連接松動的影響。
PIND檢測的具體方法、判據(jù)在標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定已比較清晰，不再贅述。需要提出的是關(guān)于固定波形的問題應(yīng)引起注意，對于混合集成電路而言，特別是電源、濾波器等內(nèi)部裝有變壓器、電感器或類似電子元器件的產(chǎn)品，應(yīng)該注意容易產(chǎn)生誤判。
①大于0. 025mm的游離或附著的任何顆粒，或雖然尺寸較小但足以跨接器件中互相不連接的導(dǎo)電部分的任何外來顆粒。
②內(nèi)引線尾部的延伸，在半導(dǎo)體芯片焊接區(qū)上超過引線直徑的兩倍，或在封裝外引線鍵合區(qū)上超過內(nèi)引線直徑的4倍。
③在封帽內(nèi)部外引線端頭上的主要尺寸大于0. 08mm或從形狀來看會斷開的任何毛刺。
④多余的半導(dǎo)體芯片鍵合材料的累積。
⑤底座外引線鍵合區(qū)或外殼內(nèi)任一處的金層脫皮。
⑥外殼內(nèi)任一處額外的球狀鍵合，在鍵合時附著的鍵合剩余物除外。
進(jìn)行X射線檢查時應(yīng)注意，在PIND振動或沖擊之后對編有序號的器件進(jìn)行的第二次X射線檢查，每一個器件應(yīng)和它的前一次X射線記錄進(jìn)行比較；任何可疑顆粒已經(jīng)移動或從原來位置上消失，則應(yīng)拒收器件；如果顆粒沒有移動的跡象，器件可接收。
顆粒碰撞噪聲檢測(簡稱PIND)是目前采用最多的一種非破壞性的多余物篩選方法。對于高可靠要求的產(chǎn)品的顆粒碰撞噪聲檢測主要是通過侍感器捕獲內(nèi)部多余物的碰撞噪聲信號，辨別多余物，進(jìn)而剔除有質(zhì)量隱患的產(chǎn)品。
目前各廠家普遍采用美國PTI公司的4501型顆粒碰撞噪聲檢測儀進(jìn)行檢測，該檢測儀主要由電磁振動臺、檢測示波器、可編程控制器三部分組成，在電磁振動臺上完成振動和沖擊過程，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)、器件設(shè)定不同的沖擊加速度、脈沖寬度。檢測過程中，電路內(nèi)部的多余物和可動部分會隨著振動和沖擊過程產(chǎn)生不同的噪聲信號，通過傳感器捕獲后在示波器上顯示出不同的波形。顯示波形分為移動波形和固定波形（也稱為機(jī)械噪聲）。
移動波形在示波器顯示屏上表現(xiàn)為單個脈沖不斷移動的形式，振幅也不同，這是多余物碰撞過程所產(chǎn)生的典型信號。外界干擾也可能產(chǎn)生單脈沖移動信號，如飛機(jī)飛過、汽車經(jīng)過等。
固定波形（機(jī)械噪聲）在示波器顯示屏上表現(xiàn)為在某個位置基本不移動，且振幅基本不變，通常這是電路內(nèi)部可動部分產(chǎn)生的典型信號，也可能是儀器本身某處連接松動的影響。
PIND檢測的具體方法、判據(jù)在標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定已比較清晰，不再贅述。需要提出的是關(guān)于固定波形的問題應(yīng)引起注意，對于混合集成電路而言，特別是電源、濾波器等內(nèi)部裝有變壓器、電感器或類似電子元器件的產(chǎn)品，應(yīng)該注意容易產(chǎn)生誤判。
X射線檢查主要用于檢查電路內(nèi)部CY7C60455-3X14C結(jié)構(gòu)缺陷和多余物，對于有高可靠要求的產(chǎn)品通常包含以下幾方面檢查內(nèi)容：
①大于0. 025mm的游離或附著的任何顆粒，或雖然尺寸較小但足以跨接器件中互相不連接的導(dǎo)電部分的任何外來顆粒。
②內(nèi)引線尾部的延伸，在半導(dǎo)體芯片焊接區(qū)上超過引線直徑的兩倍，或在封裝外引線鍵合區(qū)上超過內(nèi)引線直徑的4倍。
③在封帽內(nèi)部外引線端頭上的主要尺寸大于0. 08mm或從形狀來看會斷開的任何毛刺。
④多余的半導(dǎo)體芯片鍵合材料的累積。
⑤底座外引線鍵合區(qū)或外殼內(nèi)任一處的金層脫皮。
⑥外殼內(nèi)任一處額外的球狀鍵合，在鍵合時附著的鍵合剩余物除外。
進(jìn)行X射線檢查時應(yīng)注意，在PIND振動或沖擊之后對編有序號的器件進(jìn)行的第二次X射線檢查，每一個器件應(yīng)和它的前一次X射線記錄進(jìn)行比較；任何可疑顆粒已經(jīng)移動或從原來位置上消失，則應(yīng)拒收器件；如果顆粒沒有移動的跡象，器件可接收。
顆粒碰撞噪聲檢測(簡稱PIND)是目前采用最多的一種非破壞性的多余物篩選方法。對于高可靠要求的產(chǎn)品的顆粒碰撞噪聲檢測主要是通過侍感器捕獲內(nèi)部多余物的碰撞噪聲信號，辨別多余物，進(jìn)而剔除有質(zhì)量隱患的產(chǎn)品。
目前各廠家普遍采用美國PTI公司的4501型顆粒碰撞噪聲檢測儀進(jìn)行檢測，該檢測儀主要由電磁振動臺、檢測示波器、可編程控制器三部分組成，在電磁振動臺上完成振動和沖擊過程，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)、器件設(shè)定不同的沖擊加速度、脈沖寬度。檢測過程中，電路內(nèi)部的多余物和可動部分會隨著振動和沖擊過程產(chǎn)生不同的噪聲信號，通過傳感器捕獲后在示波器上顯示出不同的波形。顯示波形分為移動波形和固定波形（也稱為機(jī)械噪聲）。
移動波形在示波器顯示屏上表現(xiàn)為單個脈沖不斷移動的形式，振幅也不同，這是多余物碰撞過程所產(chǎn)生的典型信號。外界干擾也可能產(chǎn)生單脈沖移動信號，如飛機(jī)飛過、汽車經(jīng)過等。
固定波形（機(jī)械噪聲）在示波器顯示屏上表現(xiàn)為在某個位置基本不移動，且振幅基本不變，通常這是電路內(nèi)部可動部分產(chǎn)生的典型信號，也可能是儀器本身某處連接松動的影響。
PIND檢測的具體方法、判據(jù)在標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定已比較清晰，不再贅述。需要提出的是關(guān)于固定波形的問題應(yīng)引起注意，對于混合集成電路而言，特別是電源、濾波器等內(nèi)部裝有變壓器、電感器或類似電子元器件的產(chǎn)品，應(yīng)該注意容易產(chǎn)生誤判。
①大于0. 025mm的游離或附著的任何顆粒，或雖然尺寸較小但足以跨接器件中互相不連接的導(dǎo)電部分的任何外來顆粒。
②內(nèi)引線尾部的延伸，在半導(dǎo)體芯片焊接區(qū)上超過引線直徑的兩倍，或在封裝外引線鍵合區(qū)上超過內(nèi)引線直徑的4倍。
③在封帽內(nèi)部外引線端頭上的主要尺寸大于0. 08mm或從形狀來看會斷開的任何毛刺。
④多余的半導(dǎo)體芯片鍵合材料的累積。
⑤底座外引線鍵合區(qū)或外殼內(nèi)任一處的金層脫皮。
⑥外殼內(nèi)任一處額外的球狀鍵合，在鍵合時附著的鍵合剩余物除外。
進(jìn)行X射線檢查時應(yīng)注意，在PIND振動或沖擊之后對編有序號的器件進(jìn)行的第二次X射線檢查，每一個器件應(yīng)和它的前一次X射線記錄進(jìn)行比較；任何可疑顆粒已經(jīng)移動或從原來位置上消失，則應(yīng)拒收器件；如果顆粒沒有移動的跡象，器件可接收。
顆粒碰撞噪聲檢測(簡稱PIND)是目前采用最多的一種非破壞性的多余物篩選方法。對于高可靠要求的產(chǎn)品的顆粒碰撞噪聲檢測主要是通過侍感器捕獲內(nèi)部多余物的碰撞噪聲信號，辨別多余物，進(jìn)而剔除有質(zhì)量隱患的產(chǎn)品。
目前各廠家普遍采用美國PTI公司的4501型顆粒碰撞噪聲檢測儀進(jìn)行檢測，該檢測儀主要由電磁振動臺、檢測示波器、可編程控制器三部分組成，在電磁振動臺上完成振動和沖擊過程，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)、器件設(shè)定不同的沖擊加速度、脈沖寬度。檢測過程中，電路內(nèi)部的多余物和可動部分會隨著振動和沖擊過程產(chǎn)生不同的噪聲信號，通過傳感器捕獲后在示波器上顯示出不同的波形。顯示波形分為移動波形和固定波形（也稱為機(jī)械噪聲）。
移動波形在示波器顯示屏上表現(xiàn)為單個脈沖不斷移動的形式，振幅也不同，這是多余物碰撞過程所產(chǎn)生的典型信號。外界干擾也可能產(chǎn)生單脈沖移動信號，如飛機(jī)飛過、汽車經(jīng)過等。
固定波形（機(jī)械噪聲）在示波器顯示屏上表現(xiàn)為在某個位置基本不移動，且振幅基本不變，通常這是電路內(nèi)部可動部分產(chǎn)生的典型信號，也可能是儀器本身某處連接松動的影響。
PIND檢測的具體方法、判據(jù)在標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定已比較清晰，不再贅述。需要提出的是關(guān)于固定波形的問題應(yīng)引起注意，對于混合集成電路而言，特別是電源、濾波器等內(nèi)部裝有變壓器、電感器或類似電子元器件的產(chǎn)品，應(yīng)該注意容易產(chǎn)生誤判。
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