晶體三極管FET(場效應(yīng)晶體管)、晶閘管、晶體二1N4007極管等各種半導(dǎo)體元器件的靜特性曲線可似在示波管中描繪，特性曲線測試儀就是用來觀察上述半導(dǎo)體元器件特性的裝置。
    圖5.29為特性曲線測試儀的外形，圖5.30為特性曲線測試儀的結(jié)構(gòu)圖，包括使加于樣品（三極管、FET等）上的電壓連續(xù)變化的掃描電源，產(chǎn)生參變量信號的階梯波發(fā)生器，元器件電流的檢測電阻r，電壓軸、電流軸放大器以及電子束管等部分。其中，掃描電源為50Hz或60Hz交流電壓經(jīng)全波整流后的脈動電壓。階梯波發(fā)生器是一種與掃描電壓同步，輸出（電流或電壓）振幅階梯狀變化的電源，如圖5. 31所示�，F(xiàn)在，使晶體三極管的基極中流出ImA間隔的階梯波電流，從OV～10V變化的四個脈動波掃描電壓加到集電極一發(fā)射極之間，則示波管上描繪出的三極管VcE-IC靜特性如圖5.31所示。