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晶體三極管靜特性的測試

發(fā)布時間:2012/7/26 19:21:20 訪問次數(shù):1052

    測試晶體三極管特性時,一般采1N4005用曲線測試儀法或電壓一電流表法。圖5.27示出了采用電壓一電流表法,對2SC2320共發(fā)射極接法的CE -IC特性的測試電路。讓參量IB保持在0.02mA不變,VCE從OV增加到5V,這時測量Ic值。然后,保持0.04mA不變,再測量Ic。這樣,在不同參變量IB時測得的VCE-IC犄性曲線如圖5.28所示。采用電壓一電流表法測試時需要較長時間,比較麻煩。而采用曲線測試儀時,瞬時就可以描繪出晶體三極管的靜特性,使用起來十分方 便。用曲線測試儀測試晶體三極管時,要正確連接其發(fā)射極、集電極和基極。用切換開關(guān)將發(fā)射極接地,確定集電極的最大電壓,確定參變量基極電流,。的取值間隔。然后給晶體三極管施加電壓并使其流過電流,則曲線測試儀即可描繪出圖5.28所示的曲線。

                 

    由圖5.28的VCE -IC特性可以求得晶體管的電流放大系數(shù)。電流放大系數(shù)是晶體管的輸出電流(Ic)與輸入電流(Is)之比。電流放大系數(shù)還有直流電流放大系數(shù)。和交流電流放大系數(shù)hf之分,后者是指微小電流增量的放大系數(shù)。例如圖5. 28中(畫有o的位置)的VCE=2V,IB=0.06時,可分別求得矗FE和hfe為

                              

    測試晶體三極管特性時,一般采1N4005用曲線測試儀法或電壓一電流表法。圖5.27示出了采用電壓一電流表法,對2SC2320共發(fā)射極接法的CE -IC特性的測試電路。讓參量IB保持在0.02mA不變,VCE從OV增加到5V,這時測量Ic值。然后,保持0.04mA不變,再測量Ic。這樣,在不同參變量IB時測得的VCE-IC犄性曲線如圖5.28所示。采用電壓一電流表法測試時需要較長時間,比較麻煩。而采用曲線測試儀時,瞬時就可以描繪出晶體三極管的靜特性,使用起來十分方 便。用曲線測試儀測試晶體三極管時,要正確連接其發(fā)射極、集電極和基極。用切換開關(guān)將發(fā)射極接地,確定集電極的最大電壓,確定參變量基極電流,。的取值間隔。然后給晶體三極管施加電壓并使其流過電流,則曲線測試儀即可描繪出圖5.28所示的曲線。

                 

    由圖5.28的VCE -IC特性可以求得晶體管的電流放大系數(shù)。電流放大系數(shù)是晶體管的輸出電流(Ic)與輸入電流(Is)之比。電流放大系數(shù)還有直流電流放大系數(shù)。和交流電流放大系數(shù)hf之分,后者是指微小電流增量的放大系數(shù)。例如圖5. 28中(畫有o的位置)的VCE=2V,IB=0.06時,可分別求得矗FE和hfe為

                              

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