飛針式測試儀的工作原理
發(fā)布時間:2012/8/11 20:05:30 訪問次數(shù):1772
電路組件的故障1812AA222MAT1A主要包括三個方面,即元器件故障、PCB故障和組裝故障,其中由于PCB制造和焊接缺陷引起的故障占了電路組件全部故障的一半。PCB故障一般是在制造過程中形成的,最常見的故障表現(xiàn)為不同網(wǎng)絡(luò)導體間的短路和相同網(wǎng)絡(luò)導體內(nèi)的斷路等。在元件組裝時或組裝后發(fā)現(xiàn)這些故障,PCB都將無法修復,而只好把組裝好的電路板進行報廢處理,造成經(jīng)濟損失。因此必須在組裝元件前進行裸板測試。測試的方式有針床方式和飛針方式,兩者相比,飛針測試的整體性能要優(yōu)于針床試方式,它可以完成某些不能使用針床測試的PCB測試,是對傳統(tǒng)針床在線測試技術(shù)的一種改進。
飛針測試的開路測試原理和針床的測試原理是相同的,通過兩根探針同時接觸網(wǎng)絡(luò)的端點進行通電,然后將所獲得的電阻與設(shè)定的開路電阻進行比較,從而判斷開路與否。但短路測試原理與針床的測試原理是不同的。由于測試探針數(shù)目有限(通常為4~32根探針),接觸板面的點數(shù)非常。ㄏ鄳(yīng)為4~32點),若采用電阻測量法,測量所有網(wǎng)絡(luò)間的電阻值,那么對具有Ⅳ個網(wǎng)絡(luò)的PCB而言,就要進行/y2/2次測試,加上探針移動速度有限,一般為10—50點/秒,因此,飛針測試采用與針床測試不同的短路測試方法。常用的有電感測量法、充/放電時間法、電容測量法、相位差方法和自適應(yīng)測試法等。
飛針測試的開路測試原理和針床的測試原理是相同的,通過兩根探針同時接觸網(wǎng)絡(luò)的端點進行通電,然后將所獲得的電阻與設(shè)定的開路電阻進行比較,從而判斷開路與否。但短路測試原理與針床的測試原理是不同的。由于測試探針數(shù)目有限(通常為4~32根探針),接觸板面的點數(shù)非常。ㄏ鄳(yīng)為4~32點),若采用電阻測量法,測量所有網(wǎng)絡(luò)間的電阻值,那么對具有Ⅳ個網(wǎng)絡(luò)的PCB而言,就要進行/y2/2次測試,加上探針移動速度有限,一般為10—50點/秒,因此,飛針測試采用與針床測試不同的短路測試方法。常用的有電感測量法、充/放電時間法、電容測量法、相位差方法和自適應(yīng)測試法等。
電路組件的故障1812AA222MAT1A主要包括三個方面,即元器件故障、PCB故障和組裝故障,其中由于PCB制造和焊接缺陷引起的故障占了電路組件全部故障的一半。PCB故障一般是在制造過程中形成的,最常見的故障表現(xiàn)為不同網(wǎng)絡(luò)導體間的短路和相同網(wǎng)絡(luò)導體內(nèi)的斷路等。在元件組裝時或組裝后發(fā)現(xiàn)這些故障,PCB都將無法修復,而只好把組裝好的電路板進行報廢處理,造成經(jīng)濟損失。因此必須在組裝元件前進行裸板測試。測試的方式有針床方式和飛針方式,兩者相比,飛針測試的整體性能要優(yōu)于針床試方式,它可以完成某些不能使用針床測試的PCB測試,是對傳統(tǒng)針床在線測試技術(shù)的一種改進。
飛針測試的開路測試原理和針床的測試原理是相同的,通過兩根探針同時接觸網(wǎng)絡(luò)的端點進行通電,然后將所獲得的電阻與設(shè)定的開路電阻進行比較,從而判斷開路與否。但短路測試原理與針床的測試原理是不同的。由于測試探針數(shù)目有限(通常為4~32根探針),接觸板面的點數(shù)非常。ㄏ鄳(yīng)為4~32點),若采用電阻測量法,測量所有網(wǎng)絡(luò)間的電阻值,那么對具有Ⅳ個網(wǎng)絡(luò)的PCB而言,就要進行/y2/2次測試,加上探針移動速度有限,一般為10—50點/秒,因此,飛針測試采用與針床測試不同的短路測試方法。常用的有電感測量法、充/放電時間法、電容測量法、相位差方法和自適應(yīng)測試法等。
飛針測試的開路測試原理和針床的測試原理是相同的,通過兩根探針同時接觸網(wǎng)絡(luò)的端點進行通電,然后將所獲得的電阻與設(shè)定的開路電阻進行比較,從而判斷開路與否。但短路測試原理與針床的測試原理是不同的。由于測試探針數(shù)目有限(通常為4~32根探針),接觸板面的點數(shù)非常。ㄏ鄳(yīng)為4~32點),若采用電阻測量法,測量所有網(wǎng)絡(luò)間的電阻值,那么對具有Ⅳ個網(wǎng)絡(luò)的PCB而言,就要進行/y2/2次測試,加上探針移動速度有限,一般為10—50點/秒,因此,飛針測試采用與針床測試不同的短路測試方法。常用的有電感測量法、充/放電時間法、電容測量法、相位差方法和自適應(yīng)測試法等。
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