立環(huán)境適應(yīng)性平臺(tái)的研究方法
發(fā)布時(shí)間:2012/10/18 19:29:56 訪問(wèn)次數(shù):859
1．經(jīng)驗(yàn)估算法
電子設(shè)備中所包含的元器件、結(jié)構(gòu)件PFL4517-822ME數(shù)量繁多，并且對(duì)不同環(huán)境的適應(yīng)能力也千差萬(wàn)別，因此在工程中，當(dāng)有比較成熟的、有類同設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性結(jié)果可供參考時(shí)，有經(jīng)驗(yàn)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)師通�？刹捎媒�(jīng)驗(yàn)估算法，即對(duì)現(xiàn)有的類同設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性指標(biāo)進(jìn)行修訂，從而形成新設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性（脆值）平臺(tái)。
2．理論分析法
在現(xiàn)有研究成果的基礎(chǔ)上，對(duì)那些環(huán)境與電性能指標(biāo)耦合關(guān)系比較清楚，并且在理論分析軟件又比較成熟可靠的前提下，可通過(guò)各類CAD、CAT技術(shù)進(jìn)行理論分析，建立電子設(shè)備的環(huán)境平臺(tái)，如各類天線CAD、振動(dòng)分析、熱設(shè)計(jì)、電磁兼容設(shè)計(jì)(EMC)等。本叢書(shū)的其他專著對(duì)此有詳細(xì)討論。
3．試驗(yàn)法
對(duì)于電子設(shè)備中某些關(guān)鍵的部件或模塊（如晶振和頻率模塊），它們對(duì)環(huán)境的影響非常敏感，當(dāng)經(jīng)驗(yàn)估算和理論分析無(wú)法真實(shí)地反映其環(huán)境適應(yīng)性時(shí)，只能通過(guò)試驗(yàn)法來(lái)建立其脆值平臺(tái)。
例如，某機(jī)載電子設(shè)備中的頻率綜合囂（以下簡(jiǎn)稱頻綜器），需按國(guó)軍標(biāo)GJB 150.16A-2009《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第16部分：振動(dòng)試驗(yàn)》中圖C.8曲線進(jìn)行隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)。由于隨機(jī)振動(dòng)是在試驗(yàn)頻率范圍內(nèi)所有頻率成分的組合能量作用，即使出現(xiàn)性能下降，也無(wú)法確定哪個(gè)頻率點(diǎn)是危險(xiǎn)頻率工。通常危險(xiǎn)頻率fe的確定是采用正弦掃頻方法進(jìn)行的。對(duì)于上述頻綜器可參考原GJB 150.16-1986附錄A圖Al中的“J曲線”，進(jìn)行正弦掃描時(shí)，先將其通電調(diào)到正常工作狀態(tài)，通過(guò)掃頻振動(dòng)找出電性能下降、失靈，乃至失效的危險(xiǎn)頻率fe點(diǎn)。此時(shí)應(yīng)排除試驗(yàn)夾具共振引起的“假危險(xiǎn)頻率點(diǎn)”。然后在這些真實(shí)的危險(xiǎn)頻率點(diǎn)上，按試驗(yàn)量值F(s)的10%，20%，…逐步上升，并求出在各個(gè)頻率點(diǎn)正常工作的允許量值Zf(s)。這些量值的組合頻譜∑[E(s)]就是該頻綜器的環(huán)境適應(yīng)性平臺(tái)。
電子設(shè)備中所包含的元器件、結(jié)構(gòu)件PFL4517-822ME數(shù)量繁多，并且對(duì)不同環(huán)境的適應(yīng)能力也千差萬(wàn)別，因此在工程中，當(dāng)有比較成熟的、有類同設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性結(jié)果可供參考時(shí)，有經(jīng)驗(yàn)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)師通�？刹捎媒�(jīng)驗(yàn)估算法，即對(duì)現(xiàn)有的類同設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性指標(biāo)進(jìn)行修訂，從而形成新設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性（脆值）平臺(tái)。
2．理論分析法
在現(xiàn)有研究成果的基礎(chǔ)上，對(duì)那些環(huán)境與電性能指標(biāo)耦合關(guān)系比較清楚，并且在理論分析軟件又比較成熟可靠的前提下，可通過(guò)各類CAD、CAT技術(shù)進(jìn)行理論分析，建立電子設(shè)備的環(huán)境平臺(tái)，如各類天線CAD、振動(dòng)分析、熱設(shè)計(jì)、電磁兼容設(shè)計(jì)(EMC)等。本叢書(shū)的其他專著對(duì)此有詳細(xì)討論。
3．試驗(yàn)法
對(duì)于電子設(shè)備中某些關(guān)鍵的部件或模塊（如晶振和頻率模塊），它們對(duì)環(huán)境的影響非常敏感，當(dāng)經(jīng)驗(yàn)估算和理論分析無(wú)法真實(shí)地反映其環(huán)境適應(yīng)性時(shí)，只能通過(guò)試驗(yàn)法來(lái)建立其脆值平臺(tái)。
例如，某機(jī)載電子設(shè)備中的頻率綜合囂（以下簡(jiǎn)稱頻綜器），需按國(guó)軍標(biāo)GJB 150.16A-2009《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第16部分：振動(dòng)試驗(yàn)》中圖C.8曲線進(jìn)行隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)。由于隨機(jī)振動(dòng)是在試驗(yàn)頻率范圍內(nèi)所有頻率成分的組合能量作用，即使出現(xiàn)性能下降，也無(wú)法確定哪個(gè)頻率點(diǎn)是危險(xiǎn)頻率工。通常危險(xiǎn)頻率fe的確定是采用正弦掃頻方法進(jìn)行的。對(duì)于上述頻綜器可參考原GJB 150.16-1986附錄A圖Al中的“J曲線”，進(jìn)行正弦掃描時(shí)，先將其通電調(diào)到正常工作狀態(tài)，通過(guò)掃頻振動(dòng)找出電性能下降、失靈，乃至失效的危險(xiǎn)頻率fe點(diǎn)。此時(shí)應(yīng)排除試驗(yàn)夾具共振引起的“假危險(xiǎn)頻率點(diǎn)”。然后在這些真實(shí)的危險(xiǎn)頻率點(diǎn)上，按試驗(yàn)量值F(s)的10%，20%，…逐步上升，并求出在各個(gè)頻率點(diǎn)正常工作的允許量值Zf(s)。這些量值的組合頻譜∑[E(s)]就是該頻綜器的環(huán)境適應(yīng)性平臺(tái)。
1．經(jīng)驗(yàn)估算法
電子設(shè)備中所包含的元器件、結(jié)構(gòu)件PFL4517-822ME數(shù)量繁多，并且對(duì)不同環(huán)境的適應(yīng)能力也千差萬(wàn)別，因此在工程中，當(dāng)有比較成熟的、有類同設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性結(jié)果可供參考時(shí)，有經(jīng)驗(yàn)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)師通常可采用經(jīng)驗(yàn)估算法，即對(duì)現(xiàn)有的類同設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性指標(biāo)進(jìn)行修訂，從而形成新設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性（脆值）平臺(tái)。
2．理論分析法
在現(xiàn)有研究成果的基礎(chǔ)上，對(duì)那些環(huán)境與電性能指標(biāo)耦合關(guān)系比較清楚，并且在理論分析軟件又比較成熟可靠的前提下，可通過(guò)各類CAD、CAT技術(shù)進(jìn)行理論分析，建立電子設(shè)備的環(huán)境平臺(tái)，如各類天線CAD、振動(dòng)分析、熱設(shè)計(jì)、電磁兼容設(shè)計(jì)(EMC)等。本叢書(shū)的其他專著對(duì)此有詳細(xì)討論。
3．試驗(yàn)法
對(duì)于電子設(shè)備中某些關(guān)鍵的部件或模塊（如晶振和頻率模塊），它們對(duì)環(huán)境的影響非常敏感，當(dāng)經(jīng)驗(yàn)估算和理論分析無(wú)法真實(shí)地反映其環(huán)境適應(yīng)性時(shí)，只能通過(guò)試驗(yàn)法來(lái)建立其脆值平臺(tái)。
例如，某機(jī)載電子設(shè)備中的頻率綜合囂（以下簡(jiǎn)稱頻綜器），需按國(guó)軍標(biāo)GJB 150.16A-2009《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第16部分：振動(dòng)試驗(yàn)》中圖C.8曲線進(jìn)行隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)。由于隨機(jī)振動(dòng)是在試驗(yàn)頻率范圍內(nèi)所有頻率成分的組合能量作用，即使出現(xiàn)性能下降，也無(wú)法確定哪個(gè)頻率點(diǎn)是危險(xiǎn)頻率工。通常危險(xiǎn)頻率fe的確定是采用正弦掃頻方法進(jìn)行的。對(duì)于上述頻綜器可參考原GJB 150.16-1986附錄A圖Al中的“J曲線”，進(jìn)行正弦掃描時(shí)，先將其通電調(diào)到正常工作狀態(tài)，通過(guò)掃頻振動(dòng)找出電性能下降、失靈，乃至失效的危險(xiǎn)頻率fe點(diǎn)。此時(shí)應(yīng)排除試驗(yàn)夾具共振引起的“假危險(xiǎn)頻率點(diǎn)”。然后在這些真實(shí)的危險(xiǎn)頻率點(diǎn)上，按試驗(yàn)量值F(s)的10%，20%，…逐步上升，并求出在各個(gè)頻率點(diǎn)正常工作的允許量值Zf(s)。這些量值的組合頻譜∑[E(s)]就是該頻綜器的環(huán)境適應(yīng)性平臺(tái)。
電子設(shè)備中所包含的元器件、結(jié)構(gòu)件PFL4517-822ME數(shù)量繁多，并且對(duì)不同環(huán)境的適應(yīng)能力也千差萬(wàn)別，因此在工程中，當(dāng)有比較成熟的、有類同設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性結(jié)果可供參考時(shí)，有經(jīng)驗(yàn)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)師通常可采用經(jīng)驗(yàn)估算法，即對(duì)現(xiàn)有的類同設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性指標(biāo)進(jìn)行修訂，從而形成新設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性（脆值）平臺(tái)。
2．理論分析法
在現(xiàn)有研究成果的基礎(chǔ)上，對(duì)那些環(huán)境與電性能指標(biāo)耦合關(guān)系比較清楚，并且在理論分析軟件又比較成熟可靠的前提下，可通過(guò)各類CAD、CAT技術(shù)進(jìn)行理論分析，建立電子設(shè)備的環(huán)境平臺(tái)，如各類天線CAD、振動(dòng)分析、熱設(shè)計(jì)、電磁兼容設(shè)計(jì)(EMC)等。本叢書(shū)的其他專著對(duì)此有詳細(xì)討論。
3．試驗(yàn)法
對(duì)于電子設(shè)備中某些關(guān)鍵的部件或模塊（如晶振和頻率模塊），它們對(duì)環(huán)境的影響非常敏感，當(dāng)經(jīng)驗(yàn)估算和理論分析無(wú)法真實(shí)地反映其環(huán)境適應(yīng)性時(shí)，只能通過(guò)試驗(yàn)法來(lái)建立其脆值平臺(tái)。
例如，某機(jī)載電子設(shè)備中的頻率綜合囂（以下簡(jiǎn)稱頻綜器），需按國(guó)軍標(biāo)GJB 150.16A-2009《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第16部分：振動(dòng)試驗(yàn)》中圖C.8曲線進(jìn)行隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)。由于隨機(jī)振動(dòng)是在試驗(yàn)頻率范圍內(nèi)所有頻率成分的組合能量作用，即使出現(xiàn)性能下降，也無(wú)法確定哪個(gè)頻率點(diǎn)是危險(xiǎn)頻率工。通常危險(xiǎn)頻率fe的確定是采用正弦掃頻方法進(jìn)行的。對(duì)于上述頻綜器可參考原GJB 150.16-1986附錄A圖Al中的“J曲線”，進(jìn)行正弦掃描時(shí)，先將其通電調(diào)到正常工作狀態(tài)，通過(guò)掃頻振動(dòng)找出電性能下降、失靈，乃至失效的危險(xiǎn)頻率fe點(diǎn)。此時(shí)應(yīng)排除試驗(yàn)夾具共振引起的“假危險(xiǎn)頻率點(diǎn)”。然后在這些真實(shí)的危險(xiǎn)頻率點(diǎn)上，按試驗(yàn)量值F(s)的10%，20%，…逐步上升，并求出在各個(gè)頻率點(diǎn)正常工作的允許量值Zf(s)。這些量值的組合頻譜∑[E(s)]就是該頻綜器的環(huán)境適應(yīng)性平臺(tái)。
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