立環(huán)境適應(yīng)性平臺的研究方法
發(fā)布時間:2012/10/18 19:29:56 訪問次數(shù):846
1．經(jīng)驗估算法
電子設(shè)備中所包含的元器件、結(jié)構(gòu)件PFL4517-822ME數(shù)量繁多，并且對不同環(huán)境的適應(yīng)能力也千差萬別，因此在工程中，當(dāng)有比較成熟的、有類同設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性結(jié)果可供參考時，有經(jīng)驗的結(jié)構(gòu)設(shè)計師通常可采用經(jīng)驗估算法，即對現(xiàn)有的類同設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性指標(biāo)進行修訂，從而形成新設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性（脆值）平臺。
2．理論分析法
在現(xiàn)有研究成果的基礎(chǔ)上，對那些環(huán)境與電性能指標(biāo)耦合關(guān)系比較清楚，并且在理論分析軟件又比較成熟可靠的前提下，可通過各類CAD、CAT技術(shù)進行理論分析，建立電子設(shè)備的環(huán)境平臺，如各類天線CAD、振動分析、熱設(shè)計、電磁兼容設(shè)計(EMC)等。本叢書的其他專著對此有詳細討論。
3．試驗法
對于電子設(shè)備中某些關(guān)鍵的部件或模塊（如晶振和頻率模塊），它們對環(huán)境的影響非常敏感，當(dāng)經(jīng)驗估算和理論分析無法真實地反映其環(huán)境適應(yīng)性時，只能通過試驗法來建立其脆值平臺。
例如，某機載電子設(shè)備中的頻率綜合囂（以下簡稱頻綜器），需按國軍標(biāo)GJB 150.16A-2009《軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第16部分：振動試驗》中圖C.8曲線進行隨機振動試驗。由于隨機振動是在試驗頻率范圍內(nèi)所有頻率成分的組合能量作用，即使出現(xiàn)性能下降，也無法確定哪個頻率點是危險頻率工。通常危險頻率fe的確定是采用正弦掃頻方法進行的。對于上述頻綜器可參考原GJB 150.16-1986附錄A圖Al中的“J曲線”，進行正弦掃描時，先將其通電調(diào)到正常工作狀態(tài)，通過掃頻振動找出電性能下降、失靈，乃至失效的危險頻率fe點。此時應(yīng)排除試驗夾具共振引起的“假危險頻率點”。然后在這些真實的危險頻率點上，按試驗量值F(s)的10%，20%，…逐步上升，并求出在各個頻率點正常工作的允許量值Zf(s)。這些量值的組合頻譜∑[E(s)]就是該頻綜器的環(huán)境適應(yīng)性平臺。
電子設(shè)備中所包含的元器件、結(jié)構(gòu)件PFL4517-822ME數(shù)量繁多，并且對不同環(huán)境的適應(yīng)能力也千差萬別，因此在工程中，當(dāng)有比較成熟的、有類同設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性結(jié)果可供參考時，有經(jīng)驗的結(jié)構(gòu)設(shè)計師通常可采用經(jīng)驗估算法，即對現(xiàn)有的類同設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性指標(biāo)進行修訂，從而形成新設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性（脆值）平臺。
2．理論分析法
在現(xiàn)有研究成果的基礎(chǔ)上，對那些環(huán)境與電性能指標(biāo)耦合關(guān)系比較清楚，并且在理論分析軟件又比較成熟可靠的前提下，可通過各類CAD、CAT技術(shù)進行理論分析，建立電子設(shè)備的環(huán)境平臺，如各類天線CAD、振動分析、熱設(shè)計、電磁兼容設(shè)計(EMC)等。本叢書的其他專著對此有詳細討論。
3．試驗法
對于電子設(shè)備中某些關(guān)鍵的部件或模塊（如晶振和頻率模塊），它們對環(huán)境的影響非常敏感，當(dāng)經(jīng)驗估算和理論分析無法真實地反映其環(huán)境適應(yīng)性時，只能通過試驗法來建立其脆值平臺。
例如，某機載電子設(shè)備中的頻率綜合囂（以下簡稱頻綜器），需按國軍標(biāo)GJB 150.16A-2009《軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第16部分：振動試驗》中圖C.8曲線進行隨機振動試驗。由于隨機振動是在試驗頻率范圍內(nèi)所有頻率成分的組合能量作用，即使出現(xiàn)性能下降，也無法確定哪個頻率點是危險頻率工。通常危險頻率fe的確定是采用正弦掃頻方法進行的。對于上述頻綜器可參考原GJB 150.16-1986附錄A圖Al中的“J曲線”，進行正弦掃描時，先將其通電調(diào)到正常工作狀態(tài)，通過掃頻振動找出電性能下降、失靈，乃至失效的危險頻率fe點。此時應(yīng)排除試驗夾具共振引起的“假危險頻率點”。然后在這些真實的危險頻率點上，按試驗量值F(s)的10%，20%，…逐步上升，并求出在各個頻率點正常工作的允許量值Zf(s)。這些量值的組合頻譜∑[E(s)]就是該頻綜器的環(huán)境適應(yīng)性平臺。
1．經(jīng)驗估算法
電子設(shè)備中所包含的元器件、結(jié)構(gòu)件PFL4517-822ME數(shù)量繁多，并且對不同環(huán)境的適應(yīng)能力也千差萬別，因此在工程中，當(dāng)有比較成熟的、有類同設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性結(jié)果可供參考時，有經(jīng)驗的結(jié)構(gòu)設(shè)計師通常可采用經(jīng)驗估算法，即對現(xiàn)有的類同設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性指標(biāo)進行修訂，從而形成新設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性（脆值）平臺。
2．理論分析法
在現(xiàn)有研究成果的基礎(chǔ)上，對那些環(huán)境與電性能指標(biāo)耦合關(guān)系比較清楚，并且在理論分析軟件又比較成熟可靠的前提下，可通過各類CAD、CAT技術(shù)進行理論分析，建立電子設(shè)備的環(huán)境平臺，如各類天線CAD、振動分析、熱設(shè)計、電磁兼容設(shè)計(EMC)等。本叢書的其他專著對此有詳細討論。
3．試驗法
對于電子設(shè)備中某些關(guān)鍵的部件或模塊（如晶振和頻率模塊），它們對環(huán)境的影響非常敏感，當(dāng)經(jīng)驗估算和理論分析無法真實地反映其環(huán)境適應(yīng)性時，只能通過試驗法來建立其脆值平臺。
例如，某機載電子設(shè)備中的頻率綜合囂（以下簡稱頻綜器），需按國軍標(biāo)GJB 150.16A-2009《軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第16部分：振動試驗》中圖C.8曲線進行隨機振動試驗。由于隨機振動是在試驗頻率范圍內(nèi)所有頻率成分的組合能量作用，即使出現(xiàn)性能下降，也無法確定哪個頻率點是危險頻率工。通常危險頻率fe的確定是采用正弦掃頻方法進行的。對于上述頻綜器可參考原GJB 150.16-1986附錄A圖Al中的“J曲線”，進行正弦掃描時，先將其通電調(diào)到正常工作狀態(tài)，通過掃頻振動找出電性能下降、失靈，乃至失效的危險頻率fe點。此時應(yīng)排除試驗夾具共振引起的“假危險頻率點”。然后在這些真實的危險頻率點上，按試驗量值F(s)的10%，20%，…逐步上升，并求出在各個頻率點正常工作的允許量值Zf(s)。這些量值的組合頻譜∑[E(s)]就是該頻綜器的環(huán)境適應(yīng)性平臺。
電子設(shè)備中所包含的元器件、結(jié)構(gòu)件PFL4517-822ME數(shù)量繁多，并且對不同環(huán)境的適應(yīng)能力也千差萬別，因此在工程中，當(dāng)有比較成熟的、有類同設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性結(jié)果可供參考時，有經(jīng)驗的結(jié)構(gòu)設(shè)計師通常可采用經(jīng)驗估算法，即對現(xiàn)有的類同設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性指標(biāo)進行修訂，從而形成新設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性（脆值）平臺。
2．理論分析法
在現(xiàn)有研究成果的基礎(chǔ)上，對那些環(huán)境與電性能指標(biāo)耦合關(guān)系比較清楚，并且在理論分析軟件又比較成熟可靠的前提下，可通過各類CAD、CAT技術(shù)進行理論分析，建立電子設(shè)備的環(huán)境平臺，如各類天線CAD、振動分析、熱設(shè)計、電磁兼容設(shè)計(EMC)等。本叢書的其他專著對此有詳細討論。
3．試驗法
對于電子設(shè)備中某些關(guān)鍵的部件或模塊（如晶振和頻率模塊），它們對環(huán)境的影響非常敏感，當(dāng)經(jīng)驗估算和理論分析無法真實地反映其環(huán)境適應(yīng)性時，只能通過試驗法來建立其脆值平臺。
例如，某機載電子設(shè)備中的頻率綜合囂（以下簡稱頻綜器），需按國軍標(biāo)GJB 150.16A-2009《軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第16部分：振動試驗》中圖C.8曲線進行隨機振動試驗。由于隨機振動是在試驗頻率范圍內(nèi)所有頻率成分的組合能量作用，即使出現(xiàn)性能下降，也無法確定哪個頻率點是危險頻率工。通常危險頻率fe的確定是采用正弦掃頻方法進行的。對于上述頻綜器可參考原GJB 150.16-1986附錄A圖Al中的“J曲線”，進行正弦掃描時，先將其通電調(diào)到正常工作狀態(tài)，通過掃頻振動找出電性能下降、失靈，乃至失效的危險頻率fe點。此時應(yīng)排除試驗夾具共振引起的“假危險頻率點”。然后在這些真實的危險頻率點上，按試驗量值F(s)的10%，20%，…逐步上升，并求出在各個頻率點正常工作的允許量值Zf(s)。這些量值的組合頻譜∑[E(s)]就是該頻綜器的環(huán)境適應(yīng)性平臺。
相關(guān)技術(shù)資料- 10-18立環(huán)境適應(yīng)性平臺的研究方法
- 相關(guān)IC型號
- PFL4517-822ME
- 暫無最新型號
熱門點擊
- 芯片管腳的識別
- 三相異步電動機正、反轉(zhuǎn)的繼電器一接觸器控制
- 電子秒表的原理
- 環(huán)境適應(yīng)性設(shè)計實例及小結(jié)
- 焊點的可靠性測試方法
- 多級升降桿天線座
- 測量有源高通濾波電路的幅頻特性
- 焊料成分與元素周期表
- 電氣控制與PLC實驗項目
- 傳感器測點布置詳圖
推薦技術(shù)資料
- CV/CC InnoSwitch3-AQ 開
- URF1DxxM-60WR3系
- 1-6W URA24xxN-x
- 閉環(huán)磁通門信號調(diào)節(jié)芯片NSDRV401
- SK-RiSC-SOM-H27X-V1.1應(yīng)
- RISC技術(shù)8位微控制器參數(shù)設(shè)
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究
公網(wǎng)安備44030402000607
