STEP7中有兩類共4種邊沿檢測(cè)指令，一類是RLO的上升沿及下降沿檢測(cè)指令，BXB50-24S15FLTJ另一類是觸點(diǎn)信號(hào)的上升沿及下降沿直接檢測(cè)的梯形圖方塊指令。
    1．RLO的上升沿檢測(cè)指令
    RLO的上升沿檢測(cè)指令的格式及示例如表2- 11所列。RLO邊沿檢測(cè)指令指定有一個(gè)“位存儲(chǔ)器”，用來(lái)保存前一周期RLO的信號(hào)狀態(tài)，以便進(jìn)行比較。在OB1的每一個(gè)掃描周期，RLO位的信號(hào)狀態(tài)都將與前一周期中獲得的結(jié)果進(jìn)行比較，看信號(hào)狀態(tài)是否有變化。
    表2-11  RLO的上升沿檢測(cè)指令

           
    示例1中，當(dāng)11.0出現(xiàn)由O到1的變化時(shí)，Q4.0變?yōu)?并維持一個(gè)掃描周期，之后Q4.O又變?yōu)镺。
    示例2中，當(dāng)11.1常開(kāi)觸點(diǎn)和11.2帝閉觸點(diǎn)邏輯“或”的結(jié)果出現(xiàn)由O到1的變化時(shí)，則Q4.1變?yōu)?并維持一個(gè)掃描周期，之后Q4.1又變?yōu)镺。
     2．RLO的下降沿檢測(cè)指令
    RLO的下降沿檢測(cè)指令的格式及示例如表2-12所列。
    表2 - 12    RLO的下降沿檢測(cè)指令

           
    示例1中，當(dāng)11.O出現(xiàn)由1到O的變化時(shí)，Q4.2變?yōu)?并維持1個(gè)掃描周期，之后Q4.2又變?yōu)?。
    示例2中，在11.3常開(kāi)觸點(diǎn)斷開(kāi)的情況下，如果11.1常開(kāi)觸點(diǎn)和11.2常閉觸點(diǎn)邏輯“或”的結(jié)果出現(xiàn)由1到0的變化，則Q4.3變?yōu)?并維持1個(gè)掃描周期，之后Q4.3又變?yōu)镺。如果11.3常開(kāi)觸點(diǎn)閉合，則Q4.3為1，不受11.1及11.2狀態(tài)的影響。
    圖2-7所示的信號(hào)狀態(tài)圖，說(shuō)明了示例中FP和FN指令的檢測(cè)時(shí)序。對(duì)于FP指令，在L周期，若CPU檢測(cè)到輸入11.O為O（并保存到Ml.0），在Tn+i周期，若CPU檢測(cè)到輸入11.O為1（并保存到Ml.0），說(shuō)明檢測(cè)到一個(gè)RLO的上升沿，同時(shí)使RLO=1，輸出Q4.0得電并保持一個(gè)掃描周期；對(duì)于FN指令，在T。周期，若CPU檢測(cè)到輸入11.O為1(并保存到Ml.2)，在Tn+i周期，若CPU檢測(cè)到輸入11.0為0（并保存到Ml.2），則說(shuō)明檢測(cè)到RLO的一個(gè)下降沿，同時(shí)使RLO=1，輸出Q4.1得電并保持一個(gè)掃描周期。