為保證數(shù)字集成電路信號(hào)的正確傳輸，SN74LV14APWR必須滿足UOH≥U．H和UOL≤UIL。但在邏輯信號(hào)傳送過(guò)程中，不可避免地會(huì)受到各種干擾，信號(hào)傳送過(guò)程中的主要干擾如表4.2.2所列。
    表4.2.2信號(hào)傳送過(guò)程中的主要干擾

         
    邏輯信號(hào)在傳送過(guò)程中會(huì)受各種干擾而發(fā)生畸變，為保證信號(hào)的正碲傳輸，除了盡量減少各種干擾因素以外，器件本身的噪聲容限指標(biāo)（抗干擾能力）也是十分重要的。
    將表4.2.1中74LS系列的四電壓參數(shù)表示在圖4.2.31中，可以看到，當(dāng)電路輸出為邏輯“0”（低電平）時(shí)，輸出電壓最高為o．4 V。將此信號(hào)傳送到另一個(gè)電路的輸入端時(shí)，只要不超過(guò)0.8 V，輸入端就能正確地接收。也就是說(shuō)，允許信號(hào)在傳送過(guò)程中受至咔干擾而產(chǎn)生的變化為0.4 V，這一變化范圍稱為低電平噪聲容限，記為同理，從圖中可以看出，高電平的噪聲容限UH為0.7 V。
    圖4.2. 31噪聲容限示意圖

          
    噪聲容限是用來(lái)說(shuō)明數(shù)字集成電路抗干擾能力大小的參數(shù)。噪聲容限大，說(shuō)明抗干擾能力強(qiáng)；噪聲容限小，說(shuō)明抗干擾能力弱。根據(jù)表4.2.1中的四電壓參數(shù)可以得到各系列器件的噪聲容限。從表中數(shù)據(jù)可以看到CMOS系列器件的噪聲容限比TTL系列器件的要大得多，在干擾比較強(qiáng)的環(huán)境中應(yīng)當(dāng)選用CMOS系列器件以提高系統(tǒng)的穩(wěn)定性。由于CMOS系列器件的工作電壓可以達(dá)到15—18 V，因此使用高工作電壓，電路的噪聲容限也會(huì)提高。