晶體管單級放大電路的靜態(tài)工作點(diǎn)調(diào)試
發(fā)布時(shí)間:2013/9/16 19:34:49 訪問次數(shù):5386
單級晶體管放大電路是放大器的基本電路。AT88SC0104CA-SU根據(jù)電路結(jié)構(gòu)的不同,可分為共射、共基和共集三種組態(tài)的基本放大電路。分壓式電流負(fù)反饋偏置的晶體管共射極放大電路如圖5.3.1所示。
無輸入信號時(shí),晶體管的J。Q、UCEQ確定晶體管放大電路的靜態(tài)工作點(diǎn)。硅管的【,BEQ -般近似為0. 6~0.7 V,鍺管的UBEQ -般近似為0.2~0.3 V。調(diào)節(jié)IBQ可以改變Ico的大小,在不同的工作狀態(tài),I(:Q的取值是不同的。
(1)小信號工作
在小信號工作時(shí),非線性失真不是主要矛盾,考慮的是其他因素。希望電流消耗小,IcQ可以調(diào)節(jié)得小一些;希望放大倍數(shù)大些,IcQ可以調(diào)節(jié)大一些。一般小信號放大器取IcQ =0. 5~2 mA。
(2)大信號工作
在大信號工作時(shí),非線性失真是主要矛盾,因此,考慮的因素主要是盡量大的動態(tài)范圍和盡可能小的失真。
圖5. 3.1 晶體管共射極放大電路
此時(shí),應(yīng)選擇一個(gè)最佳負(fù)載,調(diào)節(jié)IcQ,使工作點(diǎn)盡量在負(fù)載線的中央。
(3)靜態(tài)工作點(diǎn)電流ICQ的測量
靜態(tài)工作點(diǎn)電流IcQ的調(diào)整,主要通過偏置電路進(jìn)行調(diào)整,如圖5.3.1所示的電路,通過調(diào)節(jié)電位器RP來調(diào)節(jié)偏置電流IBQ,串聯(lián)電阻R起保護(hù)作用。
IcQ的測量可以采用以下幾種方法:
①直接測量。將電流表串接在集電極電路直接測出Ico。
②間接測量。用萬用表的直流電壓擋測電阻Rc兩端的電壓URC,然后計(jì)算IcQ—URC/Rc。也可用萬用表的直流電壓擋測發(fā)射極電阻RE兩端的電壓URE一UEQ,然后通過計(jì)算IEQ≈IcQ—UEQ/RE,
直接測量精度較高,但是由于要斷開電路,比較麻煩,尤其是焊接的電路。間接測量精度差些,但方法簡便,因此常以間接測量為主。
(4)注意事項(xiàng)
由于電壓表輸入阻抗的影響,上述兩種間接測量方法得到的結(jié)果是不同的。
①電壓表接在RE兩端測量UEQ時(shí),電壓表的輸入阻抗會減小直流負(fù)反饋,從而使IE增大。
②測量URC算出IcQ后,還需進(jìn)一步檢驗(yàn)其他的靜態(tài)參數(shù),以免出現(xiàn)假象。例如,晶體管發(fā)射結(jié)因損壞而短路同樣可以測出URC值,但此時(shí)IcQ數(shù)值已無實(shí)際意義。因此,在測出IcQ值后需要測量一下UBEQ值或UCEQ值以供作出正確的判斷。
③在測量U BEQ時(shí)應(yīng)注意:將萬用表直接跨接在晶體管的B、E極間測量,而不要采用U BEQ—UBQ -U EQ的測量方法,否則可能得到是一個(gè)錯誤的結(jié)果。
單級晶體管放大電路是放大器的基本電路。AT88SC0104CA-SU根據(jù)電路結(jié)構(gòu)的不同,可分為共射、共基和共集三種組態(tài)的基本放大電路。分壓式電流負(fù)反饋偏置的晶體管共射極放大電路如圖5.3.1所示。
無輸入信號時(shí),晶體管的J。Q、UCEQ確定晶體管放大電路的靜態(tài)工作點(diǎn)。硅管的【,BEQ -般近似為0. 6~0.7 V,鍺管的UBEQ -般近似為0.2~0.3 V。調(diào)節(jié)IBQ可以改變Ico的大小,在不同的工作狀態(tài),I(:Q的取值是不同的。
(1)小信號工作
在小信號工作時(shí),非線性失真不是主要矛盾,考慮的是其他因素。希望電流消耗小,IcQ可以調(diào)節(jié)得小一些;希望放大倍數(shù)大些,IcQ可以調(diào)節(jié)大一些。一般小信號放大器取IcQ =0. 5~2 mA。
(2)大信號工作
在大信號工作時(shí),非線性失真是主要矛盾,因此,考慮的因素主要是盡量大的動態(tài)范圍和盡可能小的失真。
圖5. 3.1 晶體管共射極放大電路
此時(shí),應(yīng)選擇一個(gè)最佳負(fù)載,調(diào)節(jié)IcQ,使工作點(diǎn)盡量在負(fù)載線的中央。
(3)靜態(tài)工作點(diǎn)電流ICQ的測量
靜態(tài)工作點(diǎn)電流IcQ的調(diào)整,主要通過偏置電路進(jìn)行調(diào)整,如圖5.3.1所示的電路,通過調(diào)節(jié)電位器RP來調(diào)節(jié)偏置電流IBQ,串聯(lián)電阻R起保護(hù)作用。
IcQ的測量可以采用以下幾種方法:
①直接測量。將電流表串接在集電極電路直接測出Ico。
②間接測量。用萬用表的直流電壓擋測電阻Rc兩端的電壓URC,然后計(jì)算IcQ—URC/Rc。也可用萬用表的直流電壓擋測發(fā)射極電阻RE兩端的電壓URE一UEQ,然后通過計(jì)算IEQ≈IcQ—UEQ/RE,
直接測量精度較高,但是由于要斷開電路,比較麻煩,尤其是焊接的電路。間接測量精度差些,但方法簡便,因此常以間接測量為主。
(4)注意事項(xiàng)
由于電壓表輸入阻抗的影響,上述兩種間接測量方法得到的結(jié)果是不同的。
①電壓表接在RE兩端測量UEQ時(shí),電壓表的輸入阻抗會減小直流負(fù)反饋,從而使IE增大。
②測量URC算出IcQ后,還需進(jìn)一步檢驗(yàn)其他的靜態(tài)參數(shù),以免出現(xiàn)假象。例如,晶體管發(fā)射結(jié)因損壞而短路同樣可以測出URC值,但此時(shí)IcQ數(shù)值已無實(shí)際意義。因此,在測出IcQ值后需要測量一下UBEQ值或UCEQ值以供作出正確的判斷。
③在測量U BEQ時(shí)應(yīng)注意:將萬用表直接跨接在晶體管的B、E極間測量,而不要采用U BEQ—UBQ -U EQ的測量方法,否則可能得到是一個(gè)錯誤的結(jié)果。
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